X-ray reflectivity study of the water-hexane interface

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 103, Issue 11, 1999, Pages 1781-1782

  Mitrinovic, Dragoslav M ^a   Zhang, Zhongjian ^a   Williams, Scott M ^a   Huang, Zhengqing ^b   Schlossman, Mark L ^a  

^a UNIVERSITY OF ILLINOIS AT CHICAGO   (United States)

^b BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 20444489642     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp984640o     Document Type: Article

References (16)

1. Carpenter, I. L.; Hehre, W. J. J. Phys. Chem. 1990, 94, 531.
2. Buuren, A. R. v.; Marrink, S.-J.; Berendsen, H. J. C. J. Phys. Chem. 1993, 97, 9206.
3. Goebel, A.; Lunkenheimer, K. Langmuir 1997, 13, 369.
4. Grubb, S. G.; Kim, M. W.; Rasing, T.; Shen, Y. R. Langmuir 1988, 4, 452.
5. Conboy, J. C.; Daschbach, J. L.; Richmond, G. L. Appl. Phys. A. 1994, 59, 623.
6. Richmond, G. L. Anal. Chem. 1997, 69, 536A.
7. Naujok, R. R.; Higgins, D. A.; Hanken, D. G.; Corn, R. M. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1995, 91, 1411.
8. Braslau, A.; Deutsch, M.; Pershan, P. S.; Weiss, A. H.; Als-Nielsen, J.; Bohr, J. Phys. Rev. Lett. 1985, 54, 114.
9. Schwartz, D. K.; Schlossman, M. L.; Kawamoto, E. H.; Kellogg, G. J.; Pershan, P. S.; Ocko, B. M. Phys. Rev. A 1990, 41, 5687.
10. Penfold, J.; Thomas, R. K. J. Phys. Condens. Matter 1990, 2, 1369.
11. Lee, L. T.; Langevin, D.; Farnoux, B. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 2678.
12. Phipps, J. S.; Richardson, R. M.; Cosgrove, T.; Eaglesham, A. Langmuir 1993, 9, 3530.
13. McClain, B. R.; Lee, D. D.; Carvalho, B. L.; Mochrie, S. G. J.; Chen, S. H.; Litster, J. D. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 246.
14. Schlossman, M. L.; Synal, D.; Guan, Y.; Meron, M.; Shea-McCarthy, G.; Huang, Z.; Acero, A.; Williams, S. M.; Rice, S. A.; Viccaro, P. J. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 4372.
15. Williams, S. M.; Zhang, Z.; Mitrinovic, D.; Huang, Z.; Schlossman, M. L. Manuscript in preparation.
16. Braslau, A.; Pershan, P. S.; Swislow, G.; Ocko, B. M.; Als-Nielsen, J. Phys. Rev. A 1988, 38, 2457.