Messtechnik für die Nanotechnologie - Eine Herausforderung für die PTB

PTB - Mitteilungen Forschen und Prufen

Volumn 114, Issue 1, 2004, Pages 3-4

  Wilkening, Günter ^a  

^a PTB Fb Nano und Mikrometrologie ^*  (Germany)

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EID: 2042513613     PISSN: 0030834X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

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