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Volumn 53, Issue 2, 2004, Pages 582-586

Aluminum-induced rapid crystallization of a-Si films at low temperatures in an electric field and microstructure analyses of the crystallized films

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Amorphous silicon film; Electric field; Polycrystalline silicon film

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EID: 2042447739     PISSN: 10003290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.