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Volumn 624, Issue 2 I, 2005, Pages 1010-1024

Single-visit photometric and obscurational completeness

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Instrumentation: high angular resolution; Planetary systems; Techniques: high angular resolution

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EID: 19844375829     PISSN: 0004637X     EISSN: 15384357     Source Type: Journal    
DOI: 10.1086/429124     Document Type: Article
Times cited : (121)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.