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Volumn 584, Issue 1, 2005, Pages 119-125

Utilization of profilometry, SEM, AFM and contact angle measurements in describing surfaces of plastic floor coverings and explaining their cleanability

Author keywords

Cleaning; Contact angle; Contact profilometry; Floor coverings; Topography

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; BIOLUMINESCENCE; CLEANING; COMPOSITE MATERIALS; CONTACT ANGLE; PROFILOMETRY; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 19044389552     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.susc.2005.02.063     Document Type: Conference Paper
Times cited : (25)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.