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Volumn 174, Issue 1, 1999, Pages 11-18

Intrinsic stress origin in high quality CVD diamond films

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EID: 18944386485     PISSN: 00318965     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-396X(199907)174:1<11::AID-PSSA11>3.0.CO;2-T     Document Type: Article
Times cited : (17)

References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.