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5
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(1999)
Appl. Opt.
, vol.38
, pp. 2018
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Greco, V.1
Tronconi, R.2
Del Vecchio, C.3
Trivi, M.4
Molesini, G.5
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7
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0032646785
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B.F. Oreb et al., SPIE 3744 (1999) 18.
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(1999)
SPIE
, vol.3744
, pp. 18
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Oreb, B.F.1
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8
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(2000)
Appl. Opt.
, vol.39
, pp. 5161
-
-
Oreb, B.F.1
Farrant, D.I.2
Walsh, C.J.3
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Fairman, Ph.S.5
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11
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Japanese Industry Standard, Optical Flats JIS B 7430 (1977) 898.
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(1977)
Optical Flats JIS B
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Instruments for the measurement of surface roughness by interferometric method
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Japanese Industry Standard, Instruments for the measurement of Surface Roughness by Interferometric Method, JIS B 0652 (1973) 893.
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P.K. Rastogi, ed., (Springer Verlag, Berlin/Heidelberg)
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(1998)
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, pp. 169
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Malacara, D.1
Servin, M.2
Malacara, Z.3
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0013445006
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Stabilized Helium-Neon Laser, model 117°, Instruction Manual, Spectra-Physics International, Mountain View, CA
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Instruction Manual
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27
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85022103260
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Procedimiento para calibration de superficies planas
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Laboratorio de Pruebas Ópticas, DVDT, CIO
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J. García Márquez y C. Pérez Santos "Procedimiento para calibration de superficies planas", Manual de procedimientos, Laboratorio de Pruebas Ópticas, DVDT, CIO, (2004).
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(2004)
Manual de Procedimientos
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Márquez, J.G.1
Santos, C.P.2
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28
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85022115928
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note
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El frente de onda es por notatión W, en metrología se reserva la mayúscula para la expresión del mensurando, mismo que representamos aquí por W.
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29
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85022122330
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note
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Correspondencia personal con Bodzenko Oreb (CSIRO, Australia), Robert Polvani (NIST, EE. UU.), David Putland (NPL, Inglaterra), y Georges Vailleau (LNE, Francia). De cinco laboratories internationales de metrología, sabemos que el NIST (National Institute of Standards and Technology) ofrece una calibratión basada en una norma cuyos resultados de medición se centran en los coeficientes de aberratión de Zernike y no en P-V o RMS. El CSIRO (Commonwealth Scientific and Industrial Research organisation) no ha acreditado aún ninguno de sus dos interferómetros, el LIGO [8] y el Wyko 6000 y que el LNE (Laboratoire National d'Essais) no ofrece calibraciones de pianos ópticos. Por tanto ninguno de esos laboratories puede calibrar, con trazabilidad, al patrón materializado de longitud, un piano óptico según nuestras necesidades. Sin embargo tanto el NPL (National Physical Laboratory) como el PTB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt) ofrecen trazabilidad al patrón primario de longitud.
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