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Volumn 73, Issue 10, 2002, Pages 3584-

Characterization of silicon micro-oscillators by scanning laser vibrometry

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EID: 18744413230     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1502014     Document Type: Article
Times cited : (31)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.