X-ray diffraction study on formation of ErNbO 4 powder

Journal of Alloys and Compounds

Volumn 370, Issue 1-2, 2004, Pages 315-320

  Zhang, De Long ^a   Pun, E Y B ^b  

^a TIANJIN UNIVERSITY   (China)

^b CITY UNIVERSITY OF HONG KONG   (Hong Kong)

Author keywords

ErNbO 4 powder; Optical material; Solid state reaction; X ray diffraction spectroscopy

Indexed keywords

CALCINATION; HIGH TEMPERATURE EFFECTS; MIXTURES; OPTICAL MATERIALS; PHASE TRANSITIONS; POWDER METALLURGY; VAPORS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

ERNBO4 POWDERS; SOLID-STATE REACTIONS;

ERBIUM COMPOUNDS;

EID: 1842853939     PISSN: 09258388     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jallcom.2003.09.120     Document Type: Article

References (26)

1. Brinkmann R., Sohler W., Suche H., Electron. Lett. 27:1991;415.
2. Becker P., Brinkmann R., Dinand M., Sohler W., Suche H., Appl. Phys. Lett. 61:1992;1257.
3. Baumann I., Brinkmann R., Dinand M., Sohler W., Westenhöfer S., IEEE J. Quantum Electron. 32:1996;1695.
4. W. Sohler, H. Suche, Erbium-Doped Lithium Niobate Waveguide Lasers, in: E.J. Murphy (Ed.), Integrated Optical Circuits and Components: Design and Application, Marcel Dekker, Basel, New York, 1999, pp. 127-159.
5. Becker Ch., Oesselke T., Pandavenes J., Ricken R., Rochhausen K., Schreiberg G., Sohler W., Suche H., Wessel R., Balsamo S., Montrosset I., Sciancalepore D., IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 6:2000;101.
6. Amin J., Aust J.A., Sanford N.A., Appl. Phys. Lett. 69:1996;3785.
7. Amin J., Aust J.A., Veasey D.L., Sanford N.A., Electron. Lett. 34:1998;456.
8. Helmfrid S., Arvidsson G., Webjörn J., Linnarsson M., Pihl T., Electron. Lett. 27:1991;913.
9. Brinkmann R., Baumann I., Dinand M., Sohler W., Suche H., IEEE J. Quantum Electron. 30:1994;2356.
10. Huang C.H., McCaughan L., Electron. Lett. 32:1996;215.
11. Huang C.H., McCaughan L., IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 2:1996;367.
12. Huang C.H., McCaughan L., Electron. Lett. 33:1997;1639.
13. Voinot V., Ferrière R., Goedgebuer J.P., Electron. Lett. 34:1998;549.
14. Suche H., Baumann I., Hiller D., Sohler W., Electron. Lett. 29:1993;1111.
15. Suche H., Wessel R., Westenhöfer S., Sohler W., Opt. Lett. 20:1995;596.
16. Schäfer K., Baumann I., Sohler W., Suche H., Westenhöfer S., IEEE J. Quantum Electron. 33:1997;1636.
17. Suche H., Oesselke T., Pandavenes J., Ricken R., Rochhausen K., Sohler W., Balsamo S., Montrosset I., Wong K.K., Electron. Lett. 34:1998;1228.
18. Söchtig J., Groβ R., Baumann I., Sohler W., Schütz H., Widmer R., Electron. Lett. 31:1995;551.
19. Das B.K., Suche H., Sohler W., Appl. Phys. B. 73:2001;439.
20. Becker Ch., Greiner A., Oesselke T., Pape A., Sohler W., Suche H., Opt. Lett. 23:1998;1194.
21. Schreiber G., Hofmann D., Grundkotter W., Lee Y.L., Suche H., Quiring V., Ricken R., Sohler W., Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng. 4277:2001;144.
22. Gill D.M., McCaughan L., Wright J.C., Phys. Rev. B. 53:1996;2334.
23. Zhang D.L., Chen X.J., Wang Y.F., Zhu D.S., Wu B., Lan G.X., J. Phys. Chem. Solids. 63:2002;345.
24. Zhang D.L., Pun E.Y.B., Chen X.J., Wang Y., Jin Y.H., Zhu D.S., Wu Z.K., J. Appl. Phys. 91:2002;4014.
25. Zhang D.L., Pun E.Y.B., J. Appl. Phys. 93:2003;3141.
26. Zhang D.L., Lan G.X., Chen X.J., Zhu D.S., Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 74:2002;265.