Electron transfer through interfacial water layer studied by scanning tunneling microscopy

Journal of Chemical Physics

Volumn 108, Issue 11, 1998, Pages 4367-4370

  Hong, Y A ^a   Hahn, J R ^a   Kang, H ^a  

^a Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 1842439575     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.475847     Document Type: Article

References (29)

1. J. O'M. Bockris and S. U. M. Khan, Surface Electrochemistry (Plenum, New York, 1993).
2. W. R. Fawcett, S. Levine, R. M. deNobriga, and A. C. McDonald, J. Electroanal. Chem. 111, 163 (1980).
3. G. Alosi, M. L. Foresti, R. Guidelli, and P. Barnes, J. Chem. Phys. 91, 5592 (1989).
4. G. Nagy and K. Heinzinger, J. Electroanal. Chem. 327, 25 (1992).
5. X. Xia and M. L. Berkowitz, Phys. Rev. Lett. 74, 3193 (1995).
6. T. T. Chen and R. K. Chang, Surf. Sci. 158, 325 (1985).
7. J. E. Pemberton and S. L. Joa, J. Electroanal. Chem. 378, 149 (1994).
8. M. F. Toney, J. N. Howard, J. Richer, G. L. Borges, J. G. Gordon, O. R. Melroy, D. G. Wiesler, D. Yee, and L. B. Sorensen, Nature (London) 368, 444 (1994).
9. M. F. Toney, J. N. Howard, J. Richer, G. L. Borges, J. G. Gordon, O. R. Melroy, D. G. Wiesler, D. Yee, and L. B. Sorensen, Surf. Sci. 335, 326 (1995).
10. M. Bingelli, D. Carnal, R. Nyffenegger, H. Siegenthaler, R. Christoph, and H. Rohrer, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1985 (1991).
11. W. Haiss, D. Lackey, J. K. Sass, and K. H. Besocke, J. Chem. Phys. 95, 2193 (1991).
12. J. Pan, T. W. Jing, and S. M. Lindsay, J. Phys. Chem. 98, 4205 (1994).
13. A. Vaught, T. W. Jing, and S. M. Lindsay, Chem. Phys. Lett. 236, 306 (1995).
14. G. Nagy, J. Electroanal. Chem. 409, 19 (1996).
15. G. Repphun and J. Halbritter, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 1693 (1995).
16. S. C. Meepagala and F. Real, Phys. Rev. B 49, 10761 (1994).
17. D. A. Grigg, P. E. Russell, and J. E. Griffith, J. Vac. Sci. Technol. A 10, 680 (1992).
18. M. Heim, R. Eschrich, A. Hillebrand, H. F. Knapp, R. Guckenberger, and G. Cevc, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 1498 (1996).
19. J. K. Sass and J. K. Gimzewski, J. Electroanal. Chem. 308, 333 (1991).
20. W. Schmickler and D. Henderson, J. Electroanal. Chem. 290, 283 (1990).
21. J. R. Hahn, H. Kang, S. Song, and I. C. Jeon, Phys. Rev. B 53, R1725 (1996).
22. R. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy (Cambridge University Press, Cambridge, 1994).
23. RHK Technology, Inc. A bandwidth of 20 kHz and an effective input impedance of 4 kΩ.
24. J. R. Hahn, Y. A. Hong, and H. Kang, Appl. Phys. A (to be published).
25. U. Dürig, O. Züger, L. C. Wang, and H. J. Kreuzer, Europhys. Lett. 23, 147 (1993).
26. R. N. Barnett, U. Landman, C. L. Cleveland, and J. Jortner, J. Chem. Phys. 88, 4429 (1988).
27. W. Schmickler, Surf. Sci. 335, 416 (1995).
28. K. S. Kim, I. Park, S. Lee, K. Cho, J. Y. Lee, J. Kim, and J. D. Joannopoulos, Phys. Rev. Lett. 76, 956 (1996).
29. I. Benjamin, D. Evans, and A. Nitzan, J. Chem. Phys. 106, 1291, 6647 (1997).