Orientation-dependent phonon observation in single-crystalline aluminum nitride

Applied Physics Letters

Volumn 86, Issue 13, 2005, Pages 1-3

  Bickermann, M ^a   Epelbaum, B M ^a   Heimann, P ^a   Herro, Z G ^a   Winnacker, A ^a  

^a UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL GROWTH; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; GONIOMETERS; NONDESTRUCTIVE EXAMINATION; NUCLEATION; OPTOELECTRONIC DEVICES; RAMAN SPECTROSCOPY; SINGLE CRYSTALS;

CRYSTALLINE QUALITY; FULL WIDTH AT HALF MAXIMUM (FWHM); PHONON BANDS; RAMAN MICROSPECTROGRAPHS;

ALUMINUM NITRIDE;

EID: 17644409724     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1894610     Document Type: Article

References (19)

1. L. Liu and J. H. Edgar, Mater. Sci. Eng., R. 37, 61 (2002).
2. X. Hu, J. Deng, N. Pala, R. Gaska, M. S. Shur, C. Q. Chen, J. Yang, G. Simin, M. A. Khan, J. C. Rojo, and L. J. Schowalter, Appl. Phys. Lett. 82, 1299 (2003).
3. R. Gaska, Q. Fareed, G. Tamulaitis, I. Yilmaz, M. S. Shur, C. Chen, J. Yang, E. Kuokstis, A. Khan, J. C. Rojo, and L. J. Schowalter, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 764, C6.9 (2003).
4. B. M. Epelbaum, C. Seitz, A. Magerl, M. Bickermann, and A. Winnacker, J. Cryst. Growth 265, 577 (2004).
5. R. Loudon, Adv. Phys. 13, 423 (1964).
6. L. Bergman, M. Dutta, C. Balkas, R. F. Davis, J. A. Christman, D. Alexson, and R. J. Nemanich, J. Appl. Phys. 85, 3535 (1999).
7. C. A. Arguello, D. L. Rousseau, and S. P. S. Porto, Phys. Rev. 181, 1351 (1969).
8. V. Yu. Davydov, Yu. E. Kitaev, I. N. Goncharuk, A. N. Smirnov, J. Graul, O. Semchinova, D. Uffmann, M. B. Smirnov, A. P. Mirgorodsky, and R. A. Evarestov, Phys. Rev. B 58, 12899 (1998).
9. A. Sarua, S. Rajasingam, M. Kuball, N. Garro, O. Sancho, A. Cros, A. Cantarero, D. Olguin, B. Liu, D. Zhuang, and J. H. Edgar, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 798, Y5.17 (2004).
10. V. Darakchieva, P. P. Paskow, T. Paskova, J. Birch, S. Tungasmita, and B. Monemar, Appl. Phys. Lett. 80, 2302 (2002).
11. A. Sarua, M. Kuball, and J. E. Van Nostrand, Appl. Phys. Lett. 81, 1426 (2002).
12. A. Link, K. Bitzer, W. Limmer, R. Sauer, C. Kirchner, V. Schwegler, M. Kamp, D. G. Ebling, and K. W. Benz, J. Appl. Phys. 86, 6256 (1999).
13. L. Bergman, D. Alexson, P. L. Murphy, R. J. Nemanich, M. Dutta, M. A. Stroscio, C. Balkas, H. Shin, and R. F. Davis, Phys. Rev. B 59, 12977 (1999).
14. L. E. McNeil, M. Grimsditch, and R. H. French, J. Am. Ceram. Soc. 76, 1132 (1993).
15. G. A. Slack, R. A. Tanzilli, R. O. Pohl, and J. W. Vandersande, J. Phys. Chem. Solids 48, 641 (1987).
16. J. H. Edgar, L. Liu, B. Liu, D. Zhuang, J. Chaudhuri, M. Kuball, and S. Rajasingam, J. Cryst. Growth 246, 187 (2002).
17. F. Engelbrecht and R. Helbig, Phys. Rev. B 48, 15698 (1993).
18. A. T. Collins, E. C. Lightowlers, and P. J. Dean, Phys. Rev. 158, 833 (1967).
19. W. M. Yim, E. J. Stofko, P. J. Zanzucchi, J. I. Pankove, M. Ettenberg, and S. L. Gilbert, J. Appl. Phys. 44, 292 (1973).