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Volumn 81, Issue 4, 2003, Pages

Sense and Reliability

(1)  Coutu, Diane L a  

a HBR *

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EID: 1642358404     PISSN: 00178012     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.