Nanoscale deposition from a metal-covered scanning tunneling microscope tip

Journal of Applied Physics

Volumn 79, Issue 6, 1996, Pages 3348-3350

  Andoh, Hiroki ^a   Yokoi, Naoki ^a   Takai, Mikio ^a  

^a OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 1542419899     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.361238     Document Type: Article

References (11)

1. H. J. Mamin, P. H. Guethner, and D. Rugar, Phys. Rev. Lett. 65, 2418 (1990).
2. J. I. Pascual, J. Mendez, J. Gomez-Herrero, A. M. Baro, N. Garcia, and V. T. Binh, Phys. Rev. Lett. 71, 1852 (1993).
3. C. S. Chang, W. B. Su, and T. T. Tseng, Phys. Rev. Lett. 72 , 574 (1994).
4. K. Bessho and S. Hashimoto, Appl. Phys. Lett. 65, 2142 (1994).
5. N. Yokoi, S. Ueda, S. Namba, and M. Takai, Jpn. J. Appl. Phys. 32 , L129 (1993).
6. M. A. McCord and D. D. Awschalom, Appl. Phys. Lett. 57, 2153 (1990).
7. W. Li. J. A. Virtanen, and R. M. Penner, Appl. Phys. Lett. 60, 1181 (1992).
8. S. Hosaka. H. Koyanagi, A. Kikukawa, Y. Maruyama, and R. Imura, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 1872 (1994).
9. T. T. Tsong, Phys. Rev. B 44, 13703 (1991).
10. T. R. Albrecht, M. M. Dovek, M. D. Kirk, C. A. Lang, C. F. Quate, and D. P. E. Smith, Appl. Phys. Lett. 55, 1727 (1989).
11. J. P. Rabe, S. Buchholz, and A. M. Ritcey, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 679 (1990).