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Volumn 32, Issue 3, 1996, Pages 311-312

In situ measurement of electric conductivity of ultra thin Al film

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Electric conductivity; Size effect; Ultrathin film

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EID: 1542402184     PISSN: 04121961     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (15)
  • 9
    • 1542488882 scopus 로고    scopus 로고
    • Minn S S, Rech J. Centr Natl Res Sci Lab, (Bellevue Paris) 1960: 51
    • Minn S S, Rech J. Centr Natl Res Sci Lab, (Bellevue Paris) 1960: 51


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.