-
2
-
-
8444229713
-
-
(b) Kelley, T. W.; Baude, P. F.; Gerlach, C.; Ender, D. E.; Muyres, D.; Haase, M. A.; Vogel, D. E.; Theiss, S. D. Chem. Mater. 2004, 16, 4413.
-
(2004)
Chem. Mater.
, vol.16
, pp. 4413
-
-
Kelley, T.W.1
Baude, P.F.2
Gerlach, C.3
Ender, D.E.4
Muyres, D.5
Haase, M.A.6
Vogel, D.E.7
Theiss, S.D.8
-
4
-
-
0033903974
-
-
(d) Bao, Z. Adv. Mater. 2000, 12, 227.
-
(2000)
Adv. Mater.
, vol.12
, pp. 227
-
-
Bao, Z.1
-
5
-
-
0038307224
-
-
(a) Baude, P. F.; Ender, D. A.; Haase, M. A.; Kelley, T. W.; Muyres, D. V.; Theiss, S. D. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 3964.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.82
, pp. 3964
-
-
Baude, P.F.1
Ender, D.A.2
Haase, M.A.3
Kelley, T.W.4
Muyres, D.V.5
Theiss, S.D.6
-
6
-
-
0037455205
-
-
(b) Blanchet, G. B.; Loo, Y.; Rogers, J. A.; Gao, F.; Fincher, C. R. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 463.
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.82
, pp. 463
-
-
Blanchet, G.B.1
Loo, Y.2
Rogers, J.A.3
Gao, F.4
Fincher, C.R.5
-
7
-
-
0842283382
-
-
(c) Gelinck, G. H.; Huitema, H. E. A.; van Veenendaal, E.; Cantatore, E.; Schrijnemakers, L.; van der Putten, J. B. P. H.; Geuns, T. C. T.; Beenhakkers, M.; Giesbers, J. B.; Huisman, B.; Meijer, E. J.; Benito, E. M.; Touwslager, F. J.; Marsman, A. W.; van Rens, B. J. E.; de Leeuw, D. M. Nat. Mater. 2004, 3, 106.
-
(2004)
Nat. Mater.
, vol.3
, pp. 106
-
-
Gelinck, G.H.1
Huitema, H.E.A.2
Van Veenendaal, E.3
Cantatore, E.4
Schrijnemakers, L.5
Van Der Putten, J.B.P.H.6
Geuns, T.C.T.7
Beenhakkers, M.8
Giesbers, J.B.9
Huisman, B.10
Meijer, E.J.11
Benito, E.M.12
Touwslager, F.J.13
Marsman, A.W.14
Van Rens, B.J.E.15
De Leeuw, D.M.16
-
8
-
-
0042782752
-
-
(a) Qiu, Y.; Hu, Y.; Dong, G.; Wang, L.; Xie, J.; Ma, Y. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 1644 .
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.83
, pp. 1644
-
-
Qiu, Y.1
Hu, Y.2
Dong, G.3
Wang, L.4
Xie, J.5
Ma, Y.6
-
9
-
-
4143091519
-
-
(b) Pannemann, Ch.; Diekmann, T.; Hilleringmann, U. J. Mater. Res. 2004, 19, 1999.
-
(2004)
J. Mater. Res.
, vol.19
, pp. 1999
-
-
Pannemann, Ch.1
Diekmann, T.2
Hilleringmann, U.3
-
10
-
-
10744231495
-
-
(a) Gorjanc, T. C.; Levesque, I.; D'Iorio, M. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 930.
-
(2004)
Appl. Phys. Lett.
, vol.84
, pp. 930
-
-
Gorjanc, T.C.1
Levesque, I.2
D'Iorio, M.3
-
12
-
-
6444242950
-
-
(a) Facchetti, A.; Mushrush, M.; Yoon, M.; Hutchison, G. R.; Ratner, M. A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 13859.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 13859
-
-
Facchetti, A.1
Mushrush, M.2
Yoon, M.3
Hutchison, G.R.4
Ratner, M.A.5
Marks, T.J.6
-
13
-
-
1242269283
-
-
(b) Murphy, A. R.; Frechet, J. M. J.; Chang, P.; Lee, J.; Subramanian, V. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 1596.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 1596
-
-
Murphy, A.R.1
Frechet, J.M.J.2
Chang, P.3
Lee, J.4
Subramanian, V.5
-
14
-
-
0942298062
-
-
(c) Mas-Torrent, M.; Durkut, M.; Hadley, P.; Ribas, X.; Rovira, C. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 984.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 984
-
-
Mas-Torrent, M.1
Durkut, M.2
Hadley, P.3
Ribas, X.4
Rovira, C.5
-
15
-
-
0031207689
-
-
(d) Lin, Y.-Y.; Gundlach, D. J.; Nelson, S. F.; Jackson, T. N. IEEE Trans. Electron Devices 1997, 44, 1325.
-
(1997)
IEEE Trans. Electron Devices
, vol.44
, pp. 1325
-
-
Lin, Y.-Y.1
Gundlach, D.J.2
Nelson, S.F.3
Jackson, T.N.4
-
16
-
-
3042811341
-
-
(e) Sakamoto, Y.; Suzuki, T.; Kobayashi, M.; Gao, Y.; Fukai, Y.; Inoue, Y.; Sato, F.; Tokito, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8138.
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 8138
-
-
Sakamoto, Y.1
Suzuki, T.2
Kobayashi, M.3
Gao, Y.4
Fukai, Y.5
Inoue, Y.6
Sato, F.7
Tokito, S.8
-
17
-
-
0041865294
-
-
(f) Meng, H.; Bendikov, M.; Mitchell, G.; Helgeson, R.; Wudl, F.; Bao, Z.; Siegrist, T.; Kloc, C.; Chen, C. Adv. Mater. 2003, 15, 1090.
-
(2003)
Adv. Mater.
, vol.15
, pp. 1090
-
-
Meng, H.1
Bendikov, M.2
Mitchell, G.3
Helgeson, R.4
Wudl, F.5
Bao, Z.6
Siegrist, T.7
Kloc, C.8
Chen, C.9
-
18
-
-
0346937202
-
-
(g) Sheraw, C. D.; Jackson, T. N.; Eaton, D. L.; Anthony, J. E. Adv. Mater. 2003, 15, 2009.
-
(2003)
Adv. Mater.
, vol.15
, pp. 2009
-
-
Sheraw, C.D.1
Jackson, T.N.2
Eaton, D.L.3
Anthony, J.E.4
-
19
-
-
0037429889
-
-
(a) Ito, K.; Suzuki, T.; Sakamoto, Y.; Kubota, D.; Inoue, Y.; Sato, F.; Tokito, S. Angew. Chem., Int. Ed. 2003, 42, 1159.
-
(2003)
Angew. Chem., Int. Ed.
, vol.42
, pp. 1159
-
-
Ito, K.1
Suzuki, T.2
Sakamoto, Y.3
Kubota, D.4
Inoue, Y.5
Sato, F.6
Tokito, S.7
-
20
-
-
0037694044
-
-
(b) Meng, H.; Zheng, J.; Lovinger, A. J.; Wang, B.; Van Patten, P. G.; Bao, Z. Chem. Mater. 2003, 15, 1778.
-
(2003)
Chem. Mater.
, vol.15
, pp. 1778
-
-
Meng, H.1
Zheng, J.2
Lovinger, A.J.3
Wang, B.4
Van Patten, P.G.5
Bao, Z.6
-
21
-
-
0041931043
-
-
(c) Miao, Q.; Nguyen, T.; Someya, T.; Blanchet, G. B.; Nuckolls, C. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 10284.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 10284
-
-
Miao, Q.1
Nguyen, T.2
Someya, T.3
Blanchet, G.B.4
Nuckolls, C.5
-
22
-
-
0042709503
-
-
(d) Mushrush, M.; Facchetti, A.; Lefenfeld, M.; Katz, H. E.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 9414.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.125
, pp. 9414
-
-
Mushrush, M.1
Facchetti, A.2
Lefenfeld, M.3
Katz, H.E.4
Marks, T.J.5
-
23
-
-
0032481337
-
-
(e) Laquindanum, J. G.; Katz, H. E.; Lovinger, A. J. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 664.
-
(1998)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.120
, pp. 664
-
-
Laquindanum, J.G.1
Katz, H.E.2
Lovinger, A.J.3
-
24
-
-
0035857418
-
-
(a) Cornil, J.; Calbert, J. Ph.; Bredas, J. L. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 1250.
-
(2001)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.123
, pp. 1250
-
-
Cornil, J.1
Calbert, J.Ph.2
Bredas, J.L.3
-
25
-
-
1842607461
-
-
(b) Fritz, S. E.; Martin, S. M.; Frisbie, C. D.; Ward, M. D.; Toney, M. F. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 4084
-
(2004)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.126
, pp. 4084
-
-
Fritz, S.E.1
Martin, S.M.2
Frisbie, C.D.3
Ward, M.D.4
Toney, M.F.5
-
27
-
-
0000816323
-
-
Garnier, F.; Yassar, A.; Hajlaoui, R.; Horowitz, G.; Deloffre, F.; Servet, B.; Ries, S.; Alnot, P. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 8716.
-
(1993)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.115
, pp. 8716
-
-
Garnier, F.1
Yassar, A.2
Hajlaoui, R.3
Horowitz, G.4
Deloffre, F.5
Servet, B.6
Ries, S.7
Alnot, P.8
-
28
-
-
0031382876
-
-
(a) Lin, Y. Y.; Gundlach, D. J.; Nelson, S. F.; Jackson, T. N. IEEE Electron Device Lett. 1997, 18, 606.
-
(1997)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.18
, pp. 606
-
-
Lin, Y.Y.1
Gundlach, D.J.2
Nelson, S.F.3
Jackson, T.N.4
|