Cobalt inhomogeneity in rutile Ti 0.93Co 0.07O 2 thin films and its relation to room-temperature ferromagnetism

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 46, Issue 2, 2005, Pages 503-507

  Kim, D H ^a   Lee, K W ^a   Yang, J S ^a   Noh, T W ^a   Bu, S D ^b   Kim, Y W ^a   Jung, R ^c  

^a Seoul National University   (South Korea)

^b Chonbuk National University   (South Korea)

^c Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)   (South Korea)

Author keywords

Cobalt cluster; Cobalt doped TiO 2; Magnetic semiconductor; Rutile

Indexed keywords

EID: 14644396557     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (29)

1. H. Ohno, Science 281, 951 (1998).
2. Y. D. Park, A. T. Hanbicki, S. C. Erwin, C. S. Hellberg, J. M. Sullivan, J. E. Mattson, T. F. Ambrose, A. Wilson, G. Spanos and B. T. Jonker, Science 295, 651 (2002).
3. M. Berciu and R. N. Bhatt, Phys. Rev. Lett. 87, 107203 (2001).
4. H. Asahi, Y. K. Zhou, M. Hashimoto, M. Kanamura and R., Asano, J. Korean Phys. Soc. 42, 499 (2003).
5. H. Lee, T. D. Kang, Y. J. Park, H. T. Oh, H. Y. Cho, R. Moriya and H. Munekata, J. Korean Phys. Soc. 42, 441 (2003).
6. G. A. Medvedkin, T. Ishibashi, T. Nishi and K. Hiyata, Jpn. J. Appl. Phys. 39, L949 (2000).
7. M. L. Reed, N. A. El-Masry, H. H. Stadelmaier, M. K. Ritums, M. J. Reed, C. A. Parker, J. C. Roberts and S. M. Bedair, Appl. Phys. Lett. 79, 3473 (2001).
8. K. Ueda, H. Tkbata and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 79, 988 (2001).
9. J. H. Kim, W. K. Choo H. Kim, D. Kim and Y. Ihm, J. Korean Phys. Soc. 42, S258 (2003).
10. D. S. Kim, H. M. Kim, S. U. Yuldashev, S. J. Lee, T. W. Kang and D. Y. Kim, J. Korean Phys. Soc. 42, S333 (2003).
11. N. Kim, S. J. Lee, T. W. Kang, K. S. Yi and G. Ihm, J. Korean Phys. Soc. 39, 1050 (2001).
12. H. J. Kim and K. S. Yi, J. Korean Phys. Soc. 40, 1069 (2002).
13. Y. Matsumoto, M. Murakami, T. Shono, T. Hasagawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, S. Koshihara and H. Koinuma, Science 291, 854 (2001).
14. I. B. Shim, S.-Y. An, C. S. Kim, S.-Y, Choi and Y. W. Park, J. Appl. Phys. 91, 7914 (2002).
15. S. A. Chambers, S. Thevuthasan, R. F. C. Farrow, R. F. Marks, J. U. Thiele, L. Folks, M. G. Samant, A. J. Kellock, N. Ruzycki, D. L. Ederer and U. Diebold, Appl. Phys. Lett. 79, 3467 (2001).
16. S. A. Chambers, Materials Today 2002, 34 (2002).
17. S. A. Chambers, S. M. Heald and T. Droubay, Phys. Rev. B 67, 100401 (2003).
18. D. H. Kim, J. S. Yang, K. W. Lee, S. D. Bu, T. W. Noh, S.-J. Oh, Y.-W. Kim, J.-S. Chung, H. Tanaka, H. Y. Lee and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 81, 2421 (2002).
19. J.-Y, Kim, J.-H, Park, B.-G. Park, H.-J. Noh, S.-J. Oh, J. S. Yang, D. H. Kim, S. D. Bu, T. W. Noh, H.-J. Lin, H.-H, Hsieh and C. T. Chen, Phys. Rev. Lett. 90, 017401 (2003).
20. J. S. Yang, D. H. Kim, S. D. Bu, T. W. Noh, S. H. Phark, Z. G. Khim, I. W. Lyo and S.-J. Oh, Appl. Phys. Lett. 82, 3080 (2003).
21. Y. Matsumoto, R. Takahashi, M. Murakami, T. Koida, X.-J. Fan, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, S.-Y. Koshihara and H. Koinuma, Jpn. J. Appl. Phys. 40, L1204 (2001).
22. W. K. Park, R. J. Ortega-Hertogs, J. S. Moodera, A. Punnoose and M. S. Seehra, J. Appl. Phys. 91, 8093 (2002).
23. A. Punnoose, M. S. Seehra, W. K. Park and J. S. Moodera, J. Appl. Phys. 93, 7867 (2003).
24. Y. G. Joh, H. D. Kim, B. Y. Kim, S. I. Woo, S. H. Moon, J. H. Cho, E. C. Kim and D. H. Kim, J. Korean Phys. Soc. 44, 360 (2004).
25. M. Murakami, Y. Matsumoto, T. Hasegawa, P. Ahmet, K. Nakajima, T. Chikyow, H. Ofuchi, I. Nakai and H. Koinuma, J. Appl. Phys. 95, 5330 (2004).
26. H. Toyosaki, T. Fukumura, Y. Yamada, K. Nakajima, T. Chikyow, T. Hasegawa, H. Koinuma and M. Kawasaki, Nature Materials 3, 221 (2004).
27. S. R. Shinde, S. B. Ogale, J. S. Higgins, H. Zheng, A. J. Millis, V. N. Kulkarni, R. Ramesh, R. L. Greene and T. Venkatesan, Phys. Rev. Lett. 92, 166601 (2004).
28. S. Yamamoto, T. Sumita, Sugiharuto, A. Miyashita and H. Naramoto, Thin Solid Films 401, 88 (2001).
29. A. Ito, S. Morimoto, Y. Someya, Y. Syono and H. Tanei, J. Phys. Soc. Jpn. 51, 3173 (1982).