L-edge x-ray absorption fine structure study of growth and morphology of ultrathin nickel films deposited on copper

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 70, Issue 23, 2004, Pages 1-8

  Nietubyć, Robert ^a   Föhlisch, Alexander ^a   Glaser, Leif ^a   Lau, Julian Tobias ^a   Martins, Michael ^a   Reif, Matthias ^a   Wurth, Wilfried ^a  

^a UNIVERSITY OF HAMBURG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COPPER; NICKEL;

ABSORPTION SPECTROSCOPY; ARTICLE; CALCULATION; CALIBRATION; CHEMICAL STRUCTURE; FILM; GROWTH; MEASUREMENT; MORPHOLOGY; THEORETICAL STUDY; TITRIMETRY; X RAY;

EID: 14044264780     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.70.235414     Document Type: Article

References (30)

1. B. S. Kang, S. K. Oh, J. S. Chung, and K. Soo Sohn, Physica B 324, 279 (2002).
2. L. V. Pourovskii, N. V. Skorodumova, Yu. Kh. Vekilov, B. Johansson, and I. A. Abrikosov, Surf. Sci. 439, 111 (1999).
3. Z. Yang, V. I. Gavrilenko, and R. Wu, Surf. Sci. 447, 212 (2000).
4. S. H. Kim, K. S. Lee, H. G. Min, J. Seo, S. C. Hong, T. H. Rho, and J.-S. Kim, Phys. Rev. B 55, 7904 (1997).
5. W. Platow, U. Bovensiepen, P. Poulopoulos, M. Farle, K. Baberschke, L. Hammer, S. Walter, S. Mueller, and K. Heinz, Phys. Rev. B 59, 12641 (1999).
6. P. Poulopoulos, J. Lindner, M. Farle, and K. Baberschke, Surf. Sci. 437, 277 (1999).
7. J. Shen, J. Giergiel, and J. Kirschner, Phys. Rev. B 52, 8454 (1995).
8. M. Farle, B. Mirwald-Schulz, A. N. Anisimov, W. Platow, and K. Baberschke, Phys. Rev. B 55, 3708 (1997).
9. P. Srivastava, N. Haack, H. Wende, R. Chauvistre, and K. Baberschke, Phys. Rev. B 56, R4398 (1997).
10. O. Karis, M. Magnuson, T. Wiell, M. Weinelt, N. Wassdahl, A. Nilsson, N. Mårtensson, E. Holmström, A. M. N. Niklasson, and O. Eriksson, Phys. Rev. B 62, R16239 (2000).
11. H. Magnan, P. Le Fevre, A. Midoir, D. Chandersis, H. Jaffers, A. R. Fert and J. P. Peyrade, Surf. Sci. 454-456, 723 (2000).
12. J. T. Lau, A. Foehlisch, M. Martins, R. Nietubyc, M. Reif, and W. Wurth, New J. Phys. 4, 98 (2002), and to be published.
13. M. H. Mohamed, J.-S. Kim, and L. L. Kesmodel, Phys. Rev. B 40, 1305 (1989).
14. Y. Chen, S. Y. Tong, J-S. Kim, M. H. Mohamed, and L. L. Kesmodel, Phys. Rev. B 43, 6788 (1991).
15. L. Glaser et al. (unpublished).
16. J. C. Fuggle and N. Mårtensson, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 21, 275 (1980).
17. E. O. F. Zdansky, A. Nilsson, H. Tillborg, O. Björneholm, N. Mårtensson, J. N. Andersen, and R. Nyholm, Phys. Rev. B 48, 2632 (1993).
18. M. Magnuson, N. Wassdahl, A. Nilsson, A. Föhlisch, J. Nordgren, and N. Mårtensson, Phys. Rev. B 58, 3677 (1998).
19. M. Magnuson, A. Nilsson, M. Weinelt, and N. Mårtensson, Phys. Rev. B 60, 2436 (1999).
20. A. I. Nesvizhskii, A. L. Ankudinov, J. J. Rehr, and K. Baberschke, Phys. Rev. B 62, 15295 (2000).
21. O. Karis, M. Magnuson, T. Wiell, M. Weinelt, N. Wassdahl, A. Nilsson, N. Mårtensson, A. M. N. Niklasson, O. Eriksson, J. Stöhr, and M. Samant, in X-ray Emission and Resonant Photoemission Studies of Adsorbate Systems and Metals (Acta Universitatis Upsalensis, Uppsala, 1997), Vol. 285, Chap. 3.
22. F. Szmulowicz and D. M. Pease, Phys. Rev. B 17, 3341 (1978).
23. H. Ebert, J. Stöhr, S. S. P. Parkin, M. Samant, and A. Nilsson, Phys. Rev. B 53, 16067 (1996).
24. A. L. Ankudinov, B. Ravel, J. J. Rehr, and S. D. Conradson, Phys. Rev. B 58, 7565 (1998).
25. J. C. Jiménez-Sáez, J. Dominíguez-Vázquez, A. M. C. Pérez-Martín, and J. J. Jiménez-Rodríguez, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 193, 359 (2002).
26. E. Kopatzki, S. Guenther, W. Nichtl-Pecher, and R. J. Behm, Surf. Sci. 284, 154 (1993).
27. J. G. Amar, F. Family, and P.-M. Lam, Phys. Rev. B 50, 8781 (1994).
28. M. C. Bartelt and J. W. Ewans, Surf. Sci. 298, 421 (1993).
29. F. Yonezawa, S. Sakamoto, and M. Hori, Phys. Rev. B 40, 636 (1989).
30. E. Sobczak, Y. Swilem, N. N. Dorozhkin, R. Nietubyć, P. Dłużewski, and A. Ślawska-Waniewska, J. Alloys Compd. 328, 57 (2001).