Multiplex sum-frequency spectroscopy with electronic resonance enhancement

Chemistry Letters

Volumn 33, Issue 11, 2004, Pages 1404-1407

  Ishibashi, Taka Aki ^a,b,c   Onishi, Hiroshi ^a,b,d  

^a KANAGAWA ACADEMY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY   (Japan)

^b JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY   (Japan)

^c HIROSHIMA UNIVERSITY   (Japan)

^d KOBE UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANALYTIC METHOD; COVALENT BOND; ELECTRONICS; REVIEW; SENSITIVITY AND SPECIFICITY; SPECTROSCOPY; VIBRATION;

EID: 13544259882     PISSN: 03667022     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1246/cl.2004.1404     Document Type: Review

References (35)

1. D. M. Adams, L. Brus, C. E. D. Chidsey, S. Creager, C. Creutz, C. R. Kagan, P. V. Kamat, M. Lieberman, S. Lindsay, R. A. Marcus, R. M. Metzger, M. E. Michel-Beyerle, J. R. Milller, M. D. Newton, D. R. Rolison, O. Sankey, K. S. Schanze, J. Yardley, and X. Zhu, J. Phys. Chem. B, 107, 6668 (2003).
2. X. D. Zhu, H. Suhr, and Y. R. Shen, Phys. Rev. B, 35, 3047 (1987).
3. C. D. Bain, J. Chem. Soc., Faraday Trans., 91, 1281 (1995).
4. D. H. Gracias, Z. Chen, Y. R. Shen, and G. A. Somorjai, Acc. Chem. Res., 23, 930 (1999).
5. G. A. Somorjai and G. Rupprechter, J. Phys. Chem., 103, 1623 (1999).
6. Z. Paszti, J. Wang, M. L. Clarke, and Z. Chen, J. Phys. Chem. B, 108, 7779 (2004).
7. M. J. Shultz, S. Baldelli, C. Schnitzer, and D. Simonelli, J. Phys. Chem., 106, 5313 (2002).
8. L. F. Scatena, M. G. Brown, and G. L. Richmond, Science, 292, 908 (2001).
9. S. Ye, S. Nihonyanagi, and K. Uosaki, Phys. Chem. Chem. Phys., 3, 3463 (2001).
10. C. Hirose, A. Bandara, S. Katano, J. Kubota, A. Wada, and K. Domen, Appl. Phys. B, 68, 559 (1999);
11. A. Bandara, S. S. Kano, K. Onda, S. Katano, J. Kubota, K. Domen, C. Hirose, and A. Wada, Bull. Chem. Soc. Jpn., 75, 1125 (2002).
12. R. D. Schaller, J. C. Johnson, K. R. Wilson, L. F. Lee, L. H. Haber, and R. J. Saykally, J. Phys. Chem. B, 106, 5143 (2002).
13. J. Tretzel and F. W. Schneider, Chem. Phys. Lett., 59, 514 (1987).
14. T. Ishibashi and H. Onishi, Appl. Spectrosc., 56, 1298 (2002).
15. M. A. Hines, J. A. Todd, and P. Guyot-Sionnest, Langmuir, 11, 493 (1995).
16. T. Ishibashi and H. Onishi, Appl. Phys. Lett., 81, 1338 (2002).
17. F. Raoult, A. C. L. Boscheron, D. Husson, A. Modena, V. Malka, F. Dorchies, and A. Migus, Opt. Lett., 23, 1117 (1998).
18. E. W. M. van der Ham, Q. H. F. Vrehen, and E. R. Eliel, Opt. Lett., 21, 1448 (1996).
19. L. J. Richter, T. P. Petralli-Mallow, and J. C. Stephenson, Opt. Lett., 23, 1594 (1998).
20. T. Ishibashi, M. Ara, H. Tada, and H. Onishi, Chem. Phys. Lett., 367, 376 (2003).
21. J. M. Buriak, Chem. Commun., 1999, 1051.
22. M. M. Sung, G. J. Kluth, O. W. Yauw, and R. Maboudian, Langmuir, 13, 6164 (1997).
23. M. R. Linford, P. Fenter, P. M. Eisenberger, and C. E. D. Chidsey, J. Am. Chem. Soc., 117, 3145 (1995).
24. M. Ara, A. Sasahara, H. Onishi, and H. Tada, Nanotechnology, 15, S65 (2004).
25. A. B. Sieval, B. van den Hout, H. Zuilhof, and E. J. R. Sudhölter, Langmuir, 16, 2987 (2000).
26. L. Zhang, K. Wesley, and S. Jiang, Langmuir, 17, 6275 (2001).
27. M. B. Raschke, M. Hayashi, S. H. Lin, and Y. R. Shen, Chem. Phys. Lett., 359, 367 (2002).
28. A. A. Mani, L. Dreesen, C. Humbert, P. Hollander, Y. Caudano, P. A. Thiry, and A. Peremans, Surf. Sci., 502-503, 261 (2002).
29. T. Ishibashi, H. Uetsuka, and H. Onishi, J. Phys. Chem. B, in press.
30. A. Hagfeldt and M. Gräzel, Acc. Chem. Res., 33, 269 (2000).
31. H. Onishi, in "Chemistry of Nanomolecular Systems," ed. by T. Nakamaura, T. Matsumoto, H. Tada, and K. Sugiura, Springer, Berlin (2003), Chap. 5.
32. M. Bonn, C. Hess, S. Funk, J. H. Miners, B. N. J. Persson, M. Wolf, and G. Ertl, Phys. Rev. Lett., 84, 4653 (2000).
33. Y. R. Shen, "Priciple of Nonlinear Optics," Wiley, New York (1984).
34. A. Morita and J. M. Hynes, J. Phys. Chem. B, 106, 673 (2002).
35. Y. L. Yeh, C. Zhang, H. Held, A. M. Mebel, X. Wei, S. H. Lin, and Y. R. Shen, J. Chem. Phys., 114, 1837 (2001).