Gas-phase stability of tetrahedral multiply charged anions: A conceptual and computational DFT study

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 109, Issue 4, 2005, Pages 652-658

  Roos, Goedele ^a   De Proft, Frank ^a   Geerlings, Paul ^a  

^a VRIJE UNIVERSITEIT BRUSSEL   (Belgium)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROSPRAY IONIZATION; MODEL SYSTEMS; RATE PROFILES; REPULSIVE COULOMB BARRIERS;

MATHEMATICAL MODELS; PERMITTIVITY; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; PROBABILITY DENSITY FUNCTION; PROTEINS; SOLVENTS;

NEGATIVE IONS;

ANION;

ARTICLE; CHEMISTRY; COMPUTER SIMULATION; CONFORMATION; ELECTRON; GAS;

ANIONS; COMPUTER SIMULATION; ELECTRONS; GASES; MOLECULAR CONFORMATION;

EID: 13444283475     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp046207m     Document Type: Article

References (44)

1. Roos, G.; Messens, J.; Loverix, S.; Wyns, L.; Geerlings, P. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 17216.
2. (a) Lindblow-Kull, C.; Kuli, F. J.; Shrift, A. J. Bacteriol 1985, 163, 1267.
3. (b) Pflugrath, J. W.; Quiocho, F. A. J. Mol. Biol 1988, 200, 163.
4. (c) Zhang, Z.-Y. Crit. Reit. Biochem. Mol. Biol. 1998, 33, 1.
5. (d) Bebien, M.; Kirsch, J.; Mejean, V.; Vermeglio, A. Microbiology 2002, 148, 3865.
6. Wang, X.-B.; Nicholas, J. B.; Wang, L.-S. J. Chem. Phys. 2000, 113, 653.
7. Skurski, P.; Simons, J.; Wang, X.-B.; Wang, L.-S. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 4499.
8. Simons, J.; Skurski, P.; Barrios, R. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 11893.
9. Dreuw, A.; Cederbaum, L. S. Phys. Rev. A 2000, 63, 049904.
10. Dreuw, A.; Cederbaum, L. S. Chem. Rev. 2002, 102, 181.
11. Roos, G.; Loverix, S.; De Proft, F.; Wyns, L.; Geerlings P. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 6828.
12. See for example: Asthagiri, D.; Dillet, V.; Liu, T.; Noodleman, L.; Van Etten, R.; Bashford, D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10225.
13. Yang, X.; Wang, X.-B.; Wang, L.-S. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 7607.
14. (a) Parr, R. G.; Yang, W. Density-Functional Theory of Atoms and Molecules; Oxford University Press: Oxford, 1989.
15. (b) Parr, R. G.; Yang, W. Annu. Rev. Phys. Chem. 1995, 46, 701.
16. (c) Geerlings, P.; De Proft, F.; Langenaeker, W. Adv. Quantum Chem. 1999, 33, 303.
17. (d) Chermette, H. J. Comput. Chem. 1999, 20, 129.
18. (e) Geerlings, P.; De Proft, F. Int. J. Quantum Chem. 2000, 80, 227.
19. (f) De Proft, F.; Geerlings, P. Chem Rev. 2001, 101, 1451.
20. (g) Geerlings, P.; De Proft, F.; Langenaeker, W. Chem. Rev. 2003, 103, 1793.
21. Yang, W.; Parr, R. G. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 1985, 82, 6723.
22. Langenaeker, W.; De Proft, F.; Tielens, F.; Geerlings, P. Chem. Phys. Lett. 1998, 228, 628.
23. Murray, J. S.; Sen, K., Ed. Molecular Electrostatic Potentials Concepts and Applications; Elsevier: New York, 1996.
24. Berkowitz, M.; Parr, R. G. J. Chem. Phys. 1988, 88, 2554.
25. Vela, A.; Gázquez, L. J. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 1490.
26. (a) Cohen, M. H.; Ganduglia-Pirovano, M. V.; Kudrnovsky, J. J. Chem. Phys. 1994, 101, 8988.
27. (b) Cohen, M. H.; Ganduglia-Pirovano, M. V.; Kudrnovsky, J. J. Chem. Phys. 1995, 103, 3543.
28. (c) Geerlings, P.; De Proft, F.; Balawender, R. Reviews of Modern Quantum Chemistry, A Celebration to the Contributions of R. G. Parr, Sen, K. D., Ed.; World Scientific: Singapore, 2002; pp1053-1070.
29. Politzer P. J. Chem. Phys. 1987, 86, 1072.
30. (a) Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. 1998, 37, 2.
31. (b) Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648.
32. For a detailed account of this type of basis set see, for example: Hehre, W.; Radom, L.; Schleyer, P. v. R.; Pople, J. A. Ab Initio Molecular Orbital Theory; Wiley: New York, 1986.
33. (a) Wiberg, K. B.; Keith, T. A.; Frisch, M. J.; Murcko, M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 9072.
34. (b) Foresman, J. B.; Keith, T. A.; Wiberg, K. B.; Snoonian, J.; Frisch, M. J. J. Phys. Chem. 1996, 100, 16096.
35. (c) Foresman, J. B.; Frisch, M. J. Exploring Chemistry with Electronic Structure Methods, 2nd ed.; Gaussian, Inc: Pitsburgh, PA, 1996.
36. (d) Safi, B.; Choho, K.; De Proft, F.; Geerlings, P. J. Phys. Chem. 1998, 102, 5253.
37. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala. P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision B.01; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 2003.
38. Boldyrev, A. I.; Simons, J. J. Phys. Chem. 1994, 98, 2298.
39. De Proft, F.; Langenaeker, W.; Geerlings, P. J. Phys. Chem. 1993, 97, 1826.
40. Koopmans T. A. Physica 1933, 1, 104.
41. Nguyen, L. T.; De Proft, F.; Casas Amat, M.; Van Lier G.; Fowler, P. W.; Geerlings, P. J. Phys. Chem. A 2003, 101, 6837.
42. (a) Ghanty, T. K.; Ghosh, S. K. J. Phys. Chem. 1993, 97, 4951.
43. (b) Nagle, J. K. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 1490.
44. Stefanovich, E. V.; Boldyrev, A. I.; Truong, T. N.; Simons, J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 4205.