On surface compounds of transition metals. XL: Characterization of chromium doped silica catalyst systems of the phillips type by Scanning Electron Microscopy with Energy Dispersive analysing System (SEM/EDS);Über oberflächenverbindungen von übergangsmetallen. XL: Rasterelektronenmikroskopische und röntgen-mikroanalytische untersuchungen an reduzierten phillipskatalysatoren

Journal fur Praktische Chemie - Chemiker - Zeitung

Volumn 338, Issue 7, 1996, Pages 627-633

  Schmidt, H ^a   Reiderer, W ^a   Krauss, H L ^a  

^a UNIVERSITY OF BAYREUTH   (Germany)

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EID: 13344285469     PISSN: 09411216     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/prac.199633801120     Document Type: Article

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