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Volumn 13, Issue 4, 1998, Pages 52-X13

Machine vision methods for automatic defect detection in liquid crystal displays

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CHARGE COUPLED DEVICES; COMPUTER VISION; DIGITAL SIGNAL PROCESSING; IMAGE SENSORS; INSPECTION; POINT DEFECTS;

EID: 11544324376     PISSN: 10420711     EISSN: None     Source Type: Trade Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.