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Volumn 12, Issue 3, 2003, Pages 359-360

Editorial on "focus point": Unstable thin films

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DEFECTS; INTERFACES (MATERIALS); LIQUID CRYSTALS; POLYSTYRENES; SILICON WAFERS; VAN DER WAALS FORCES;

EID: 1142305371     PISSN: 12928941     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1140/epje/e2004-00001-0     Document Type: Editorial
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.