-
1
-
-
0041756572
-
-
R. A. Lindley, C. H. Bjorkman, H. Shan, K.-H. Ke, K. Doan, R. R. Mett, and M. Welch, J. Vac. Sci. Technol. A 16, 1600 (1998).
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.16
, pp. 1600
-
-
Lindley, R.A.1
Bjorkman, C.H.2
Shan, H.3
Ke, K.-H.4
Doan, K.5
Mett, R.R.6
Welch, M.7
-
3
-
-
0031176681
-
-
M. J. Buie, J. T. P. Pender, and P. L. G. Ventzek, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 4838 (1997).
-
(1997)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.36
, pp. 4838
-
-
Buie, M.J.1
Pender, J.T.P.2
Ventzek, P.L.G.3
-
4
-
-
0007042240
-
-
P. Berruyer, F. Vinet, H. Feldis, R. Blanc, M. Lerme, Y. Morand, and T. Poiroux, J. Vac. Sci. Technol. A 16, 1604 (1998).
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.16
, pp. 1604
-
-
Berruyer, P.1
Vinet, F.2
Feldis, H.3
Blanc, R.4
Lerme, M.5
Morand, Y.6
Poiroux, T.7
-
6
-
-
0032687859
-
-
C. O. Jung, K. K. Chi, B. G. Hwang, J. T. Moon, M. Y. Lee, and J. G. Lee, Thin Solid Films 341, 112 (1999).
-
(1999)
Thin Solid Films
, vol.341
, pp. 112
-
-
Jung, C.O.1
Chi, K.K.2
Hwang, B.G.3
Moon, J.T.4
Lee, M.Y.5
Lee, J.G.6
-
12
-
-
0029352533
-
-
D. A. W. Hutchinson, M. M. Turner, R. A. Doyle, and M. B. Hopkins, IEEE Trans. Plasma Sci. 23, 636 (1995).
-
(1995)
IEEE Trans. Plasma Sci.
, vol.23
, pp. 636
-
-
Hutchinson, D.A.W.1
Turner, M.M.2
Doyle, R.A.3
Hopkins, M.B.4
-
20
-
-
0001726196
-
-
K. Sasaki, Y. Kawai, C. Suzuki, and K. Kadota, J. Appl. Phys. 83, 7482 (1998).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.83
, pp. 7482
-
-
Sasaki, K.1
Kawai, Y.2
Suzuki, C.3
Kadota, K.4
-
21
-
-
0037279636
-
-
X. Li, L. Ling, X. Hua, M. Fukasawa, and G. S. Oehrlein, J. Vac. Sci. Technol. A 21, 284 (2003).
-
(2003)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.21
, pp. 284
-
-
Li, X.1
Ling, L.2
Hua, X.3
Fukasawa, M.4
Oehrlein, G.S.5
-
31
-
-
0001425316
-
-
J. E. Sanabia, G. D. Cooper, J. A. Tossell, and J. H. Moore, J. Chem. Phys. 108, 389 (1998).
-
(1998)
J. Chem. Phys.
, vol.108
, pp. 389
-
-
Sanabia, J.E.1
Cooper, G.D.2
Tossell, J.A.3
Moore, J.H.4
-
32
-
-
0031167544
-
-
H. Toyoda, M. Iio, and H. Sugai, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 36, 3730 (1997).
-
(1997)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.36
, pp. 3730
-
-
Toyoda, H.1
Iio, M.2
Sugai, H.3
-
36
-
-
33845425707
-
-
K. Yoshida, S. Goto, H. Tagashira, C. Winstead, B. V. McKoy, and W. L. Morgan, J. Appl. Phys. 91, 2637 (2002).
-
(2002)
J. Appl. Phys.
, vol.91
, pp. 2637
-
-
Yoshida, K.1
Goto, S.2
Tagashira, H.3
Winstead, C.4
McKoy, B.V.5
Morgan, W.L.6
-
41
-
-
1142280119
-
-
(submitted)
-
X. Li, L. Ling, X. Hua, G. S. Oehrlein, Y. Wang, A. V. Vasenkov, and M. J. Kushner, J. Vac. Sci. Technol. A (submitted).
-
J. Vac. Sci. Technol. A
-
-
Li, X.1
Ling, L.2
Hua, X.3
Oehrlein, G.S.4
Wang, Y.5
Vasenkov, A.V.6
Kushner, M.J.7
-
42
-
-
0032179638
-
-
Y. Hirose, I. Ishikawa, S. Sasaki, K. Nakeskei, Y. Saito, and S. Suganomata, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 37, 5730 (1998).
-
(1998)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.37
, pp. 5730
-
-
Hirose, Y.1
Ishikawa, I.2
Sasaki, S.3
Nakeskei, K.4
Saito, Y.5
Suganomata, S.6
-
47
-
-
0032650085
-
-
G. S. Oehrlein, M. F. Doemling, B. E. E. Kastenmeier, P. J. Matsuo, N. R. Rueger, M. Schaepkens, and T. E. F. M. Standaert, IBM J. Res. Dev. 42, 181 (1999).
-
(1999)
IBM J. Res. Dev.
, vol.42
, pp. 181
-
-
Oehrlein, G.S.1
Doemling, M.F.2
Kastenmeier, B.E.E.3
Matsuo, P.J.4
Rueger, N.R.5
Schaepkens, M.6
Standaert, T.E.F.M.7
|