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Volumn 614, Issue 1 I, 2004, Pages 508-517

New spectral classification technique for x-ray sources: Quantile analysis

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Methods: Statistical; X rays: General

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EID: 10844292550     PISSN: 0004637X     EISSN: 15384357     Source Type: Journal    
DOI: 10.1086/423445     Document Type: Article
Times cited : (96)

References (9)
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    • 3142775719 scopus 로고    scopus 로고
    • Kim, D. W., et al. 2004, ApJ, 600, 59
    • (2004) ApJ , vol.600 , pp. 59
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.