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Volumn 33, Issue 5, 2004, Pages 731-735

Progress and problems of High-k: materials

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Gate dielectric; High k materials; MOSFET; Thin films

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EID: 10444265154     PISSN: 1000985X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.