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Volumn 5488, Issue PART 2, 2004, Pages 581-592

A practical system for X-ray interferometry

Author keywords

Interferometry; X ray

Indexed keywords

COMPUTATIONAL GEOMETRY; COMPUTER SIMULATION; DETECTORS; DIFFRACTION GRATINGS; IMAGING TECHNIQUES; INTERFEROMETRY; SENSITIVITY ANALYSIS; X RAY OPTICS;

EID: 10044265563     PISSN: 0277786X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1117/12.552917     Document Type: Conference Paper
Times cited : (19)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.