Spectroscopic Ellipsometric Study of ZnO and Zn 1-xMg xO Thin Films Grown on (0001) Sapphire Substrate

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 44, Issue 1, 2004, Pages 129-132

  Kang, T D ^a   Lee, Hosun ^a   Park, Won Il ^b   Yi, Gyu Chul ^b  

^a Kyung Hee University   (South Korea)

^b Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

Author keywords

Critical point; Dielectric function; Ellipsometry; Holden model; ZnO

Indexed keywords

EID: 0842328991     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper

References (21)

1. K. Poslava, H. Sueki, M. Aoyama, T. Yamaguchi, Ch. Ino, Y. Igasaki and M. Morie, J. Appl. Phys. 87, 7820 (2000).
2. A. Ohtomo, M. Kawasaki, T. Koida, K. Masuchii H. Koinuma. Y. Sakurai, Y. Yoshida, T. Yasuda and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett. 72, 2466 (1998).
3. A. Ohtomo, K. Tamura, M. Kawasaki, T. Makino, Y. Segawa, Z. K. Tang, G. K. L. Wong, Y. Matsumoto and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 7, 2204 (2000).
4. W. I. Park, G. C. Yi and H. M. Jang, Appl. Phys. Lett. 79, 2022 (2001).
5. H. Yoshikawa and S. Adachi, Jpn. J. Appl. Phys. 36, 6237 (1997)
6. G. E. Jellison, Jr. and L. A. Boatner, Phys. Rev. B 58, 3586 (1998).
7. J. H. Kang, Y. R. Park and K. J. Kim, Solid State Commun. 115, 127 (2000).
8. P. L. Washington, H. C. Ong, J. Y. Dai and R. P. H. Chang, Appl. Phys. Lett. 72, 3261 (1998)
9. T., Holden, P. Ram, F. H. Pollak, J. L. Freeouf, B. X. Yang and M. C. Tamargo, Phys. Rev. B 56, 4037 (1997).
10. C. Tanguy, Phys. Rev. Lett. 75, 4090 (1995).
11. R. M. A. Azzam and N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light (North-Holland, Amsterdam, 1987).
12. W. Y. Liang and A. D. Yoffe, Phys. Rev. Lett. 20, 59 (1968).
13. D. C. Reynolds, D. C. Look, B. Jogai, C. W. Litton, G. Cantwell and W. C. Harsh, Phys. Rev. B 60, 2340 (1999).
14. B. Gil, Phys. Rev. B 64, 201310 (2001).
15. S. F. Chichibu, T. Sota, G. Cantwell, D. B. Eason and C. W. Litton, J. Appl. Phys. 93, 756 (2003).
16. D. G. Thpmas, J. Phys. Chem. Solids 15, 86(1960).
17. J. J. Hopfield, J. Phys. Chem. Solids 15, 97 (1960).
18. W. R. L. Lambrecht, A. V. Rodina, S. Limpijumnong, B. Segall and B. K. Meyer, Phys. Rev. B 65, 075207 (2002).
19. S. F. Chichibu, A. Tsukazaki, M. Kawasaki, K. Tamura, Y. Segawa, T. Sota and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 80, 2860 (2002).
20. S. J. So and C. B. Park, J. Korean Phys. Soc. 40, 925 (2002).
21. S. J. Kwon, H. J. Lee, Y. W. Seo and H. S. Jeong, J. Korean Phys. Soc. 43, 709 (2003).