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Volumn 5, Issue 2, 1993, Pages 191-198

Coulomb gap measurement in non-compensated Si:As

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EID: 0642359243     PISSN: 09538984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0953-8984/5/2/007     Document Type: Article
Times cited : (11)

References (22)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.