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Volumn 18, Issue 3, 1997, Pages 71-79

Characterization of SCR-DENOx Materials by ICP-MS and ICP-AES: Comparison with XRF and NAA

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EID: 0642280311     PISSN: 01955373     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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References (6)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.