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Volumn 57, Issue 8, 1998, Pages 4708-4712

Characterization of normal and inverted interfaces by the Zeeman effect in quantum wells

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EID: 0542443292     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.57.4708     Document Type: Article
Times cited : (15)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.