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Volumn 39, Issue 11, 2003, Pages 1133-

Internal friction and dielectric relaxation studies on the oxygen vacancy diffusion in the novel La2Mo2O9-based oxide-ion conductors

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EID: 0348222225     PISSN: 04121961     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.