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Volumn 17, Issue 3, 1970, Pages 187-195

Fano Factor Fact and Fallacy

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COUNTERS; DIO; RADIATION, DETECTORS; SEMICONDUCTOR; SEMICONDUCTOR DETECTORS; SEMICONDUCTOR DEVICES, DIODE; SEMICONDUCTOR DEVICES, SILICON;

EID: 0347896516     PISSN: 00189499     EISSN: 15581578     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/TNS.1970.4325691     Document Type: Article
Times cited : (53)

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    • Der Einfluss von Sammelverlusten auf die Auflösung bei der Gamma - Spektroskopie mit Ge(Li) - Detektoren
    • H. Bernt and P. Eichinger, “Der Einfluss von Sammelverlusten auf die Auflösung bei der Gamma - Spektroskopie mit Ge(Li) - Detektoren”, Pres. at Tournees d'Electronique Toulouse, 1968.
    • Pres. at Tournees d'Electronique Toulouse
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.