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Volumn 53, Issue 12, 1996, Pages 7775-7784

Lattice properties of strained GaAs, Si, and Ge using a modified bond-charge model

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EID: 0347626222     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.53.7775     Document Type: Article
Times cited : (40)

References (26)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.