Long wavelength infrared negative luminescent devices with strong Auger suppression

Journal of Applied Physics

Volumn 94, Issue 11, 2003, Pages 7300-7304

  Nash, G R ^a   Ashby, M K ^a   Lindle, J R ^b   Gordon, N T ^a   Bewley, W W ^b   Meyer, J R ^b   Giess, J ^a   Haworth, L ^a   Ashley, T ^a  

^a QINETIQ   (United Kingdom)

^b NAVAL RESEARCH LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BOLOMETRIC DETECTORS; TEMPERATURE DROP; THERMAL EMISSIONS;

ANTIREFLECTION COATINGS; BROADBAND NETWORKS; COMPUTATIONAL GEOMETRY; COMPUTER SIMULATION; FREQUENCIES; INFRARED RADIATION; LIGHT EMISSION; MERCURY COMPOUNDS; MICROBIAL ELECTRODES; RADIATION SHIELDING; SENSITIVITY ANALYSIS; THERMAL EFFECTS;

PHOTODIODES;

EID: 0347592438     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1625094     Document Type: Article

References (15)

1. T. Ashley, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 484, 153 (1998).
2. J. R. Lindle, W. W. Bewley, I. Vurgaftman, J. R. Meyer, J. B. Varesi, and S. M. Johnson, Appl. Phys. Lett. 82, 2002 (2003).
3. T. Ashley, N. T. Gordon, G. R. Nash, C. L. Jones, C. D. Maxey, and R. A. Catchpole, Appl. Phys. Lett. 79, 1136 (2001).
4. V. K. Malyutenko, S. S. Bolgov, and O. Yu. Malyutenko, Infrared Phys. Technol. 44, 11 (2003).
5. N. T. Gordon, R. S. Hall, C. L. Jones, C. D. Maxey, N. E. Metcalfe, R. A. Catchpole, and A. M. White, J. Electron. Mater. 29, 818 (2000).
6. See, for example, D. Murphy, M. Ray, R. Wyles, J. Ashbrock, N. Lum, A. Kennedy, J. Wyles, C. Hewitt, G. Graham, T. Horikiri, J. Anderson, D. Bradley, R. Chin, and T. Kostrzewa, Proc. SPIE 4454, 147 (2001).
7. M. K. Ashby, N. T. Gordon, C. T. Elliott, C. L. Jones, C. D. Maxey, L. Hipwood, and R. Catchpole, J. Electron. Mater. 32, 667 (2003).
8. A. R. Beattie and A. M. White, J. Appl. Phys. 79, 802 (1996).
9. W. W. Bewley, M. J. Jurkovic, C. L. Felix, J. R. Lindle, I. Vurgaftman, J. R. Meyer, E. H. Aifer, J. E. Butler, S. P. Tobin, P. W. Norton, and M. A. Hutchins, Appl. Phys. Lett. 78, 3082 (2001).
10. W. W. Bewley, J. R. Lindle, I. Vurgaftman, J. R. Meyer, J. L. Johnson, M. L. Thomas, and W. E. Tennant, Appl. Phys. Lett. (submitted).
11. B. A. Matveev, N. V. Zotova, S. A. Karandashev, M. A. Remennyi, N. M. Stus, and G. N. Talalakin, IEE Proc.: Optoelectron. 149, 33 (2002).
12. M. J. Pullin, H. R. Hardaway, J. D. Heber, and C. C. Phillips, Appl. Phys. Lett. 75, 3437 (1999).
13. L. J. Olafsen, I. Vurgaftman, W. W. Bewley, C. L. Felix, E. H. Aifer, J. R. Meyer, J. R. Waterman, and W. Mason, Appl. Phys. Lett. 74, 2681 (1999).
14. G. R. Nash, N. T. Gordon, T. Ashley, M. T. Emeny, and T. M. Burke, IEE Proc. Optoelectron. (to be published).
15. G. R. Nash, T. Ashley, N. T. Gordon, C. L. Jones, C. D. Maxey, and R. A. Catchpole, J. Mod. Opt. 49, 811 (2002).