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Volumn 419, Issue 2-3, 1998, Pages 532-537

The CDF silicon detector upgrade

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Intermediate silicon layers; Silicon detector upgrade

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PARTICLE BEAM TRACKING; SEMICONDUCTING SILICON;

EID: 0346940884     PISSN: 01689002     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0168-9002(98)00830-4     Document Type: Article
Times cited : (1)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.