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Volumn 7, Issue 1, 2004, Pages 26-33

Dielectrics for future transistors

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CHARGE CARRIERS; DIELECTRIC MATERIALS; ELECTRIC FIELDS; ELECTRON TRANSITIONS; ENERGY UTILIZATION; INTEGRATED CIRCUITS; LEAKAGE CURRENTS; PERMITTIVITY; POLYSILICON; THERMODYNAMIC STABILITY;

EID: 0346765511     PISSN: 13697021     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1369-7021(04)00052-5     Document Type: Article
Times cited : (95)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.