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Volumn 88, Issue 11, 2000, Pages 6815-6820

Self-normalized photothermal techniques for thermal diffusivity measurements

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EID: 0346450823     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1324694     Document Type: Article
Times cited : (23)

References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.