메뉴 건너뛰기




Volumn 248, Issue 1-4, 1998, Pages 121-126

Magnetic anisotropy and exchange biasing in heterojunctions studied by transverse magnetic circular X-ray dichroism

Author keywords

Magnetocrystalline anisotropy; Orbital magnetization; Thin film technology

Indexed keywords

ELECTROMAGNETIC WAVE POLARIZATION; ELECTRON ENERGY LEVELS; INTERFACES (MATERIALS); IRON; MAGNETIC ANISOTROPY; MAGNETIC MOMENTS; MAGNETIZATION; MONOLAYERS; NICKEL; SEMICONDUCTING FILMS; THIN FILMS; X RAYS;

EID: 0346401463     PISSN: 09214526     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0921-4526(98)00216-6     Document Type: Article
Times cited : (4)

References (22)
  • 2
    • 33847264052 scopus 로고
    • B.T. Thole, P. Carra, F. Sette, G. van der Laan, Phys. Rev. Lett. 68 (1992) 1943; P. Carra, B.T. Thole, M. Altarelli, X. Wang, ibid 69 (1993) 2307; G. van der Laan, B.T. Thole, Phys. Rev. B 53 (1996) 14458; G. van der Laan, Phys. Rev. B 57 (1998) 112.
    • (1992) Phys. Rev. Lett. , vol.68 , pp. 1943
    • Thole, B.T.1    Carra, P.2    Sette, F.3    Van Der Laan, G.4
  • 3
    • 33847264052 scopus 로고
    • B.T. Thole, P. Carra, F. Sette, G. van der Laan, Phys. Rev. Lett. 68 (1992) 1943; P. Carra, B.T. Thole, M. Altarelli, X. Wang, ibid 69 (1993) 2307; G. van der Laan, B.T. Thole, Phys. Rev. B 53 (1996) 14458; G. van der Laan, Phys. Rev. B 57 (1998) 112.
    • (1993) Phys. Rev. Lett. , vol.69 , pp. 2307
    • Carra, P.1    Thole, B.T.2    Altarelli, M.3    Wang, X.4
  • 4
    • 0001253503 scopus 로고    scopus 로고
    • B.T. Thole, P. Carra, F. Sette, G. van der Laan, Phys. Rev. Lett. 68 (1992) 1943; P. Carra, B.T. Thole, M. Altarelli, X. Wang, ibid 69 (1993) 2307; G. van der Laan, B.T. Thole, Phys. Rev. B 53 (1996) 14458; G. van der Laan, Phys. Rev. B 57 (1998) 112.
    • (1996) Phys. Rev. B , vol.53 , pp. 14458
    • Van Der Laan, G.1    Thole, B.T.2
  • 5
    • 0000025433 scopus 로고    scopus 로고
    • B.T. Thole, P. Carra, F. Sette, G. van der Laan, Phys. Rev. Lett. 68 (1992) 1943; P. Carra, B.T. Thole, M. Altarelli, X. Wang, ibid 69 (1993) 2307; G. van der Laan, B.T. Thole, Phys. Rev. B 53 (1996) 14458; G. van der Laan, Phys. Rev. B 57 (1998) 112.
    • (1998) Phys. Rev. B , vol.57 , pp. 112
    • Van Der Laan, G.1
  • 7
    • 4043184313 scopus 로고
    • Y. Wu et al., Phys. Rev. Lett. 69 (1992) 2307; W.L. O'Brien et al., J. Appl. Phys. 76 (1994) 6462; C.T. Chen et al., Phys. Rev. Lett. 75 (1995) 152; M. Tischer et al., ibid 76 (1996) 1403; J. Lee et al., Phys. Rev. B 55 (1997) 15 103.
    • (1992) Phys. Rev. Lett. , vol.69 , pp. 2307
    • Wu, Y.1
  • 8
    • 0000978226 scopus 로고
    • Y. Wu et al., Phys. Rev. Lett. 69 (1992) 2307; W.L. O'Brien et al., J. Appl. Phys. 76 (1994) 6462; C.T. Chen et al., Phys. Rev. Lett. 75 (1995) 152; M. Tischer et al., ibid 76 (1996) 1403; J. Lee et al., Phys. Rev. B 55 (1997) 15 103.
    • (1994) J. Appl. Phys. , vol.76 , pp. 6462
    • O'Brien, W.L.1
  • 9
    • 3342975547 scopus 로고
    • Y. Wu et al., Phys. Rev. Lett. 69 (1992) 2307; W.L. O'Brien et al., J. Appl. Phys. 76 (1994) 6462; C.T. Chen et al., Phys. Rev. Lett. 75 (1995) 152; M. Tischer et al., ibid 76 (1996) 1403; J. Lee et al., Phys. Rev. B 55 (1997) 15 103.
    • (1995) Phys. Rev. Lett. , vol.75 , pp. 152
    • Chen, C.T.1
  • 10
    • 26344447316 scopus 로고    scopus 로고
    • Y. Wu et al., Phys. Rev. Lett. 69 (1992) 2307; W.L. O'Brien et al., J. Appl. Phys. 76 (1994) 6462; C.T. Chen et al., Phys. Rev. Lett. 75 (1995) 152; M. Tischer et al., ibid 76 (1996) 1403; J. Lee et al., Phys. Rev. B 55 (1997) 15 103.
    • (1996) Phys. Rev. Lett. , vol.76 , pp. 1403
    • Tischer, M.1
  • 11
    • 0000656053 scopus 로고    scopus 로고
    • Y. Wu et al., Phys. Rev. Lett. 69 (1992) 2307; W.L. O'Brien et al., J. Appl. Phys. 76 (1994) 6462; C.T. Chen et al., Phys. Rev. Lett. 75 (1995) 152; M. Tischer et al., ibid 76 (1996) 1403; J. Lee et al., Phys. Rev. B 55 (1997) 15 103.
    • (1997) Phys. Rev. B , vol.55 , pp. 15103
    • Lee, J.1
  • 14


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.