On the origin of stacking faults at the GaAs/ZnSe heterointerface

Applied Physics Letters

Volumn 68, Issue 12, 1996, Pages 1675-1677

  Bourret Courchesne, Edith D ^a  

^a LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0345995030     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.115902     Document Type: Article

References (12)

1. R. M. Park, M. B. Troffer, C. M. Rouleau, J. D. DePuydt, and M. A. Haase, Appl. Phys. Lett. 57, 2127 (1990).
2. K. Ohkawa, T. Karasawa, and T. Mitsuyu, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L152 (1992).
3. A. Ishibashi and S. Itoh, in 7th IEEE Lasers and Electro-optics Society Annual Meeting, PD1.1, Boston, 1994.
4. S. Guha, J. M. DePuydt, M. A. Haase, J. Qiu, and H. Cheng, Appl. Phys. Lett. 63, 3107 (1993).
5. M. Hovinen, J. Ding, A. V. Nurmikko, G. C. Hua, D. C. Grillo, L. He, J. Han, and R. L. Gunshor, Appl. Phys. Lett. 66, 2013 (1995).
6. S. Akram, H. Ehsani, and I. B. Bhat, J. Cryst. Growth 124, 628 (1992).
7. S. Guha, H. Munekata, and L. L. Chang, J. Appl. Phys. 73, (1993).
8. J. E. Epler, T. A. Jung, and H. P. Schweizer, Appl. Phys. Lett. 62, (1993).
9. E. D. Bourret, F. X. Zach, K. M. Yu, and J. M. Walker, J. Cryst. Growth 147, 47 (1995).
10. S. Rouvimov, E. D. Bourret, J. and Washburn, Z. Liliental-Weber, Appl. Phys. Lett. 68, 346 (1996).
11. D. W. Kisker, P. H. Fuoss, K. L. Tokuda, G. Renaud, S. Brennan, and J. L. Kahn, Appl. Phys. Lett. 56, 2025 (1990).
12. D. Li and M. D. Pashley, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2547 (1994).