Magnetic Properties of Green Cr 2O 3 Nanoparticles

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 43, Issue 6, 2003, Pages

  Lee, G H ^a   Choi, B J ^a   Kim, S H ^a   Park, J W ^a   Huh, S H ^a   Chang, Y ^b   Kim, Bongsoo ^c   Park, J ^d   Oh, S J ^e  

^a Kyungpook National University   (South Korea)

^b Kyungpook National University School of Medicine   (South Korea)

^c Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

^d Korea University   (South Korea)

^e Korea Basic Science Institute (KBSI)   (South Korea)

Author keywords

Cr 2O 3 nanoparticles; Ferrimagnetic property; Magnetic properties; Surface effects

Indexed keywords

EID: 0345760147     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (18)

1. B. D. Cullity, Introduction to Magnetic Materials (Addison-Wesley, Reading, Massachusetts, 1972).
2. U. Balachandran, R. W. Siegel, Y. X. Liao and T. R. Askew, Nanostruct. Mater. 5, 505 (1995).
3. D. Vollath, D. V. Szabo and J. O. Willis, Mater. Lett. 29, 271 (1996).
4. S. H. Huh, S. J. Oh, Y. N. Kim and G. H. Lee, Rev. Sci. Instrum. 70, 4366 (1999); S. H. Huh, H. K. Kim, J. W. Park and G. H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 38, 791 (2001); J. W. Park, S. H. Huh, J. W. Jeong, H.-C. Ri and G. H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 39, 387 (2001).
5. S. H. Huh, S. J. Oh, Y. N. Kim and G. H. Lee, Rev. Sci. Instrum. 70, 4366 (1999); S. H. Huh, H. K. Kim, J. W. Park and G. H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 38, 791 (2001); J. W. Park, S. H. Huh, J. W. Jeong, H.-C. Ri and G. H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 39, 387 (2001).
6. S. H. Huh, S. J. Oh, Y. N. Kim and G. H. Lee, Rev. Sci. Instrum. 70, 4366 (1999); S. H. Huh, H. K. Kim, J. W. Park and G. H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 38, 791 (2001); J. W. Park, S. H. Huh, J. W. Jeong, H.-C. Ri and G. H. Lee, J. Korean Phys. Soc. 39, 387 (2001).
7. M. Baster, F. Bouree, A. Kowalska and Z. Latacz, J. Alloys Comp. 296, 1 (2000).
8. C. Petit, A. Taleb and M. P. Pileni, J. Phys. Chem. B 103, 1805 (1999); G. A. Held, G. Grinstein, H. Doyle, S. Sun and C. B. Murry, Phys. Rev. B 64, 012408 (2001); M. M. Ibrahim, S. Darwish and M. S. Seehra, Phys. Rev. B 51, 2955 (1995).
9. C. Petit, A. Taleb and M. P. Pileni, J. Phys. Chem. B 103, 1805 (1999); G. A. Held, G. Grinstein, H. Doyle, S. Sun and C. B. Murry, Phys. Rev. B 64, 012408 (2001); M. M. Ibrahim, S. Darwish and M. S. Seehra, Phys. Rev. B 51, 2955 (1995).
10. C. Petit, A. Taleb and M. P. Pileni, J. Phys. Chem. B 103, 1805 (1999); G. A. Held, G. Grinstein, H. Doyle, S. Sun and C. B. Murry, Phys. Rev. B 64, 012408 (2001); M. M. Ibrahim, S. Darwish and M. S. Seehra, Phys. Rev. B 51, 2955 (1995).
11. A. K. Murtazaev, I. K. Kamilov and Kh. K. Aliev, J. Magn. Magn. Mater, 204, 151 (1999).
12. R. H. Kodama, S. A. Makhlouf and A. E. Berkowitz, Phys. Rev. Lett. 79, 1393 (1997); J. T. Richardson, D. I. Yiagas, B. Turk and K. Forster, J. Appl. Phys. 70, 6977 (1991); W. J. Schuele and V. D. Deetscreek, J. Appl. Phys. 33, 1136 (1962); J. T. Richardson and W. O. Milligan, Phys. Rev. 102, 1289 (1956).
13. R. H. Kodama, S. A. Makhlouf and A. E. Berkowitz, Phys. Rev. Lett. 79, 1393 (1997); J. T. Richardson, D. I. Yiagas, B. Turk and K. Forster, J. Appl. Phys. 70, 6977 (1991); W. J. Schuele and V. D. Deetscreek, J. Appl. Phys. 33, 1136 (1962); J. T. Richardson and W. O. Milligan, Phys. Rev. 102, 1289 (1956).
14. R. H. Kodama, S. A. Makhlouf and A. E. Berkowitz, Phys. Rev. Lett. 79, 1393 (1997); J. T. Richardson, D. I. Yiagas, B. Turk and K. Forster, J. Appl. Phys. 70, 6977 (1991); W. J. Schuele and V. D. Deetscreek, J. Appl. Phys. 33, 1136 (1962); J. T. Richardson and W. O. Milligan, Phys. Rev. 102, 1289 (1956).
15. R. H. Kodama, S. A. Makhlouf and A. E. Berkowitz, Phys. Rev. Lett. 79, 1393 (1997); J. T. Richardson, D. I. Yiagas, B. Turk and K. Forster, J. Appl. Phys. 70, 6977 (1991); W. J. Schuele and V. D. Deetscreek, J. Appl. Phys. 33, 1136 (1962); J. T. Richardson and W. O. Milligan, Phys. Rev. 102, 1289 (1956).
16. C. Zhiwen, Z. Shuyuan, T. Shun, L. Fanqing, W. Jian, J. Sizhao and Z. Yuheng, J. Cryst. Growth 180, 280 (1997).
17. The measured coercivities and remanences at 5, 10, 42, 43, 54, 100, and 300 K are 708, 524, 262, 236, 210, 184 and 52 Oe and 0,040, 0.035, 0.021, 0.017, 0,015, 0.009 and 0.003 emu/g, respectively.
18. J. P. Chen, C. M. Sorenson, K. J. Labunde and G. C. Hadjipanayis, in Nanophase Materials, edited by G. C. Hadjipanayis and R. W. Siegel (Kluwer Academic, Dordrecht, 1994).