-
1
-
-
0001144613
-
-
Kenn, R. M.; Böhm, C.; Bibo, A. M.; Peterson, I. R.; Möhwald, H.; Als-Nielsen, J.; Kjaer, K. J. Phys. Chem. 1991, 95, 2092-2097.
-
(1991)
J. Phys. Chem.
, vol.95
, pp. 2092-2097
-
-
Kenn, R.M.1
Böhm, C.2
Bibo, A.M.3
Peterson, I.R.4
Möhwald, H.5
Als-Nielsen, J.6
Kjaer, K.7
-
3
-
-
0026981774
-
-
Peterson, I. R.; Brzesinski, V.; Kenn, R. M.; Steitz, R. Langmuir 1992, 8, 2995-3002.
-
(1992)
Langmuir
, vol.8
, pp. 2995-3002
-
-
Peterson, I.R.1
Brzesinski, V.2
Kenn, R.M.3
Steitz, R.4
-
4
-
-
36449006428
-
-
Kaganer, V. M.; Peterson, I. R.; Kenn, R. M.; Shih, M. C.; Durbin, M.; Dutta, P. J. Chem. Phys. 1995, 102, 9412-9422.
-
(1995)
J. Chem. Phys.
, vol.102
, pp. 9412-9422
-
-
Kaganer, V.M.1
Peterson, I.R.2
Kenn, R.M.3
Shih, M.C.4
Durbin, M.5
Dutta, P.6
-
5
-
-
33751154795
-
-
Brezesinski, G.; Scalas E.; Struth, B.; Möhwald, H.; Bringezu, F.; Gehlert, U.; Weidemann, G.; Vollhardt, D. J. Phys. Chem. 1995, 99, 8758-8762.
-
(1995)
J. Phys. Chem.
, vol.99
, pp. 8758-8762
-
-
Brezesinski, G.1
Scalas, E.2
Struth, B.3
Möhwald, H.4
Bringezu, F.5
Gehlert, U.6
Weidemann, G.7
Vollhardt, D.8
-
6
-
-
0002237817
-
-
Scalas, E.; Brezesingki, G.; Möhwald, H.; Kaganer, V. M.; Bouwman, W. G.; Kjaer, K. Thin Solid Films 1996, 284/285, 56-61.
-
(1996)
Thin Solid Films
, vol.284-285
, pp. 56-61
-
-
Scalas, E.1
Brezesingki, G.2
Möhwald, H.3
Kaganer, V.M.4
Bouwman, W.G.5
Kjaer, K.6
-
7
-
-
0031647193
-
-
Weidemann, G.; Brezesinski, G.; Bringezu, F.; de Meijere, K.; Vollhardt, D.; Möhwald H. J. Phys. Chem. 1998, 102, 148-153.
-
(1998)
J. Phys. Chem.
, vol.102
, pp. 148-153
-
-
Weidemann, G.1
Brezesinski, G.2
Bringezu, F.3
De Meijere, K.4
Vollhardt, D.5
Möhwald, H.6
-
8
-
-
0028404954
-
-
Overbeck, G. A.; Hȯnig, D.; Möbius, D. Thin Solid Films 1994, 224, 213-219.
-
(1994)
Thin Solid Films
, vol.224
, pp. 213-219
-
-
Overbeck, G.A.1
Honig, D.2
Möbius, D.3
-
10
-
-
0001094859
-
-
a) Gehlert, U.; Weidemann, G.; Vollhardt, D. J. Colloid Interface Sci. 1995, 174, 392-399.
-
(1995)
J. Colloid Interface Sci.
, vol.174
, pp. 392-399
-
-
Gehlert, U.1
Weidemann, G.2
Vollhardt, D.3
-
11
-
-
0029274586
-
-
(b) Weidemann, G.; Gehlert, U.; Vollhardt, D. Langmuir 1995, 11, 864-871.
-
(1995)
Langmuir
, vol.11
, pp. 864-871
-
-
Weidemann, G.1
Gehlert, U.2
Vollhardt, D.3
-
12
-
-
0000603458
-
-
Qiu, X.; Ruiz-Garcia, J.; Stine, K. J.; Knobler, C. M.; Selinger, J. V. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 703-706.
-
(1991)
Phys. Rev. Lett.
, vol.67
, pp. 703-706
-
-
Qiu, X.1
Ruiz-Garcia, J.2
Stine, K.J.3
Knobler, C.M.4
Selinger, J.V.5
-
14
-
-
0000843508
-
-
(a) Schwartz, D. K.; Ruiz-Garcia, J.; Qiu, X.; Selinger, J. V.; Knobler, C. M. Physica A 1994, 204, 606-615.
-
(1994)
Physica A
, vol.204
, pp. 606-615
-
-
Schwartz, D.K.1
Ruiz-Garcia, J.2
Qiu, X.3
Selinger, J.V.4
Knobler, C.M.5
-
15
-
-
0011777671
-
-
(b) Ruiz-Garcia, J.; Qiu, X.; Tsao, M.-W.; Marshall, G.; Knobler, C. M.; Overbeck, G. A.; Möbius, D. J. Phys. Chem. 1993, 97, 6955-6957.
-
(1993)
J. Phys. Chem.
, vol.97
, pp. 6955-6957
-
-
Ruiz-Garcia, J.1
Qiu, X.2
Tsao, M.-W.3
Marshall, G.4
Knobler, C.M.5
Overbeck, G.A.6
Möbius, D.7
-
16
-
-
0001241712
-
-
(c) Schwartz, D. K.; Tsao, M.-W.; Knobler, C. M. J. Chem. Phys. 1994, 101, 8258-8261.
-
(1994)
J. Chem. Phys.
, vol.101
, pp. 8258-8261
-
-
Schwartz, D.K.1
Tsao, M.-W.2
Knobler, C.M.3
-
18
-
-
0030234923
-
-
(a) Fischer, B.; Tsao, W.-M.; Ruiz-Garcia, J.; Fischer, Th. M.; Schwartz, D. K.; Knobler, C. M. Thin Solid Films 1996, 284/285, 110-114.
-
(1996)
Thin Solid Films
, vol.284-285
, pp. 110-114
-
-
Fischer, B.1
Tsao, W.-M.2
Ruiz-Garcia, J.3
Fischer, Th.M.4
Schwartz, D.K.5
Knobler, C.M.6
-
19
-
-
0000755961
-
-
(b) Fischer, B.; Tsao, M.-W.; Ruiz-Garcia, J.; Fischer, T. M.; Schwartz, D. K.; Knobler, C. M. J. Phys. Chem. 1994, 98, 7430-7435.
-
(1994)
J. Phys. Chem.
, vol.98
, pp. 7430-7435
-
-
Fischer, B.1
Tsao, M.-W.2
Ruiz-Garcia, J.3
Fischer, T.M.4
Schwartz, D.K.5
Knobler, C.M.6
-
21
-
-
0032178898
-
-
Weidemann, G.; Brezesinski, G.; Vollhardt, D.; Möhwald H. Langmuir 1998, 14, 6485-6492.
-
(1998)
Langmuir
, vol.14
, pp. 6485-6492
-
-
Weidemann, G.1
Brezesinski, G.2
Vollhardt, D.3
Möhwald, H.4
-
22
-
-
0002285066
-
-
Ed. Ebashi, S., Koch, M., Rubenstein, E. Amsterdam, Oxford, New York, Tokyo
-
Als-Nielsen, J.; Möhwald, H. in "Handbook on Synchrotron Radiation", Vol. 4, Ed. Ebashi, S., Koch, M., Rubenstein, E. Amsterdam, Oxford, New York, Tokyo, 1994 pp 1-53.
-
(1994)
Handbook on Synchrotron Radiation
, vol.4
, pp. 1-53
-
-
Als-Nielsen, J.1
Möhwald, H.2
-
24
-
-
0345217118
-
-
Als-Nielsen, J.; Jacquemain, D.; Kjaer, K.; Lahav, M.; Leiveiller, F. Leiserowitz, L. Phys. Rep. 1994, 246, 251-321.
-
(1994)
Phys. Rep.
, vol.246
, pp. 251-321
-
-
Als-Nielsen, J.1
Jacquemain, D.2
Kjaer, K.3
Lahav, M.4
Leiveiller, F.5
Leiserowitz, L.6
-
25
-
-
0028408455
-
-
Kjaer, K. Physica B 1994, 198, 100-109.
-
(1994)
Physica B
, vol.198
, pp. 100-109
-
-
Kjaer, K.1
-
26
-
-
0001171432
-
-
Rist, T., Sherrington, D., Eds.; NATO ASI Series B; New York
-
Als-Nielsen, J.; Kjaer, K. In Phase Transitions in Soft Condensed Matter; Rist, T., Sherrington, D., Eds.; NATO ASI Series B; 1989; New York, Vol. 211, pp 113-138.
-
(1989)
Phase Transitions in Soft Condensed Matter
, vol.211
, pp. 113-138
-
-
Als-Nielsen, J.1
Kjaer, K.2
|