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Volumn 11, Issue 1, 1981, Pages 1-26

Scanning transmission electron microscopy: Microanalysis for the microelectronic age

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EID: 0345345385     PISSN: 03054608     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0305-4608/11/1/007     Document Type: Article
Times cited : (44)

References (56)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.