Oscillations in reflectivity of samples with x-ray waveguide layers

Acta Physica Polonica A

Volumn 89, Issue 3, 1996, Pages 323-328

  Pelka J B ^a   Lagomarsino, S ^b   Di Fonzo, S ^c   Jark, W ^c   Domagala J ^a  

^a INSTITUTE OF PHYSICS   (Poland)

^b CNR   (Italy)

^c SINCROTRONE TRIESTE   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0345201185     PISSN: 05874246     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.12693/APhysPolA.89.323     Document Type: Article

References (7)

1. J. Wang, M.J. Bedzyk, T.L. Penner, M. Caffrey, Nature 354, 377 (1991).
2. D.K.G. de Boer, Phys. Rev. B 44, 498 (1991).
3. J. Wang, M.J. Bedzyk, M. Caffrey, Science 258, 775 (1992).
4. S. Di Fonzo, W. Jark, S. Lagomarsino, A. Cedola, B. Muller, J.B. Pełka, Thin Solid Films, accepted for publication.
5. J.B. Pełka, S. Lagomarsino, A. Cedola, S. Di Fonzo, W. Jark, B. Muller, J. Domagała, to be published in: Zastosowanie Promieniowania Synchrotronowego (Proc. 3rd. Nat. Seminar. Synchr. Rad. Users, Warsaw, 6-7 June 1995), Ed. E. Sobczak, Wydawnictwo Fundacji im. Wojciecha Świetosławskiego, Warszawa 1995, p. 130.
6. L.G. Parratt, Phys. Rev. 95, 359 (1954).
7. H. Kiessig, Ann. Phys. (Germany) 10, 715, 769 (1931).