Electromagnetic random field models for analysis of coupling inside mode tuned chambers

Electronics Letters

Volumn 39, Issue 24, 2003, Pages 1713-1714

  Fiachetti, C ^a   Michielsen, B ^b  

^a Centre National de la Recherche Scientifique   (France)

^b ONERA   (France)

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ELECTRIC CURRENT DISTRIBUTION; ELECTROMAGNETIC WAVE INTERFERENCE; MATHEMATICAL MODELS; PROBABILITY DISTRIBUTIONS; SCATTERING PARAMETERS; STATISTICAL METHODS;

ELECTROMAGNETIC COUPLING; ELECTROMAGNETIC RANDOM FIELD MODEL; LINEAR ELECTRONIC SYSTEM; MODE TUNED CHAMBER;

ELECTROMAGNETIC FIELDS;

EID: 0344704062     PISSN: 00135194     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1049/el:20031138     Document Type: Article

References (6)

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