Two-dimensional intensity distribution of photoluminescence from porous silicon

Journal of Applied Physics

Volumn 80, Issue 3, 1996, Pages 1743-1748

  Matsuda, T ^a   Tanino, K ^a   Ishii, H ^b   Ikeshita, T ^b   Ohzone, T ^b  

^a TOYAMA INDUSTRIAL TECHNOLOGY CENTER   (Japan)

^b TOYAMA PREFECTURAL UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0343771290     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.362985     Document Type: Article

References (18)

1. L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).
2. A. Bsiesy, J. C. Vial, F. Gaspard, R. Herino, M. Ligeon, F. Muller, R. Romestain, A. Wasiela, A. Harimaoi, and G. Bomchil, Surf. Sci. 254, 195 (1991).
3. N. Koshida and H. Koyama, Jpn. J. Appl. Phys. 30, L1221 (1991).
4. P. Steiner, F. Kozlowski, and W. Lang, IEEE Electron Device Lett. 14, 317 (1993).
5. D. J. DiMarida, J. R. Kirtley, E. J. Pakulis, D. W. Dong, T. S. Kuan, F. L. Pasevento, T. N. Theis, J. A. Cutro, and S. D. Brorson, J. Appl. Phys. 56, 401 (1984).
6. V. Lehmann and U. G. Gösele, Appl. Phys. Lett. 58, 856 (1991).
7. T. Van Buuren, Y. Gao, T. Tiedje, J. R. Dahn, and B. M. Way, Appl. Phys. Lett. 60, 3013 (1992).
8. M. S. Brandt, H. D. Fuchs, M. Stutzmann, J. Weber, and M. Cardona, Solid State Commun. 81, 307 (1992).
9. Z. Y. Xu, M. Gal, and M. Gross, Appl. Phys. Lett. 60, 1375 (1992).
10. E. Bustarret, M. Ligeon, and L. Ortega, Solid State Commun. 83, 461 (1992).
11. C. Tsai, K. H. Li, J. Sarathy, S. Shin, J. C. Campbell, B. K. Hance, and J. M. White, Appl. Phys. Lett. 59, 2814 (1991).
12. R. W. Fathauer, T. George, A. Ksendzov, and R. P. Vasquez, Appl. Phys. Lett. 60, 995 (1992).
13. T. Kimura, H. Nishida, S. Terui, and T. Suzuki, Jpn. J. Appl. Phys. 34, 1895 (1995).
14. M. A. Tishler, R. T. Collis, J. H. Stathis, and J. C. Tsang, Appl. Phys. Lett. 60, 639 (1992).
15. G. Ambrazevicius, G. Zaicevas, V. Jasutis, D. Lescinskas, T. Lideikis, I. Simkiene, and D. Gulbinaite, J. Appl. Phys. 79, 5442 (1994).
16. N. Ookubo, J. Appl. Phys. 74, 6375 (1993).
17. S. M. Prokes, J. A. Freitas, Jr., and P. C. Searson, Appl. Phys. Lett. 60, 3295 (1992).
18. T. Ohzone and H. Iwata, Proc. IEEE 1992 Int. Conf. Microelectronic Test Structures 5, 115 (1992).