Scanning force microscopy study of the surface topography of thin BaTiO3 films deposited by pulsed laser ablation

Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Volumn 14, Issue 3, 1996, Pages 1600-1606

  Zhang, J ^a,b   Szabadi, M ^a   Hess, P ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

^b INSTITUTE OF GEOLOGY AND GEOPHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0343733788     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.589198     Document Type: Article

References (15)

1. H. Nakazawa, H. Yamane, and T. Hirai, Jpn. J. Appl. Phys. 30, 2200 (1991).
2. Y. S. Yoon, W. N. Kang, H. S. Shin, S. S. Yom, T. W. Kim, J. Y. Lee, D. J. Choi, and S. S. Baek, J. Appl. Phys. 73, 1547 (1993).
3. K. Iijima, T. Terashima, K. Yamamoto, K. Hirata, and Y. Bando, Appl. Phys. Lett. 56, 527 (1990).
4. K. Nashimoto, D. K. Fork, F. A. Ponce, and J. C. Tramontana, Jpn. J. Appl. Phys. 32, 5656 (1993).
5. J. Gong, M. Kawasaki, K. Fujito, U. Tanaka, N. Ishizawa, M. Yoshimoto, H. Koinuma and M. Kumagai, Jpn. J. Appl. Phys. 32, L687 (1993).
6. J. Zhang, Z.H. Chen, D. F. Cui, H. B. Lu, Y. L. Zhou, L. Lin, G. Z. Yang, N. Jiang, and J. M. Hao, Appl. Phys. Lett. 66, 2069 (1995).
7. G. Meyer and N. M. Amer, Appl. Phys. Lett. 53, 1045 (1988).
8. C. F. Quate, Surf. Sci. 299/300, 980 (1994).
9. Y. S. Yoon, Y. K. Yoon, J. Y. Lee, and S. S. Yom, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 4075 (1994).
10. D. P. Norton, D. H. Lowndes, X. Y. Zheng, S. Zhu, and R. J. Warmack, Phys. Rev. B 44, 9760 (1991).
11. G. Este and W. D. Westwood, J. Vac. Sci. Technol. A 5, 1982 (1987).
12. N. Y. Lee, T. Sekine, Y. Ito, and K. Uchino, Jpn. J. Phys. 33, 1484 (1994).
13. Z. Trajanovic, I. Takeuchi, P. A. Warburton, C. J. Lobb, and T. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 66, 1536 (1995).
14. B. H. Moeckly, S. E. Russek, D. K. Lathrop, R. A. Buhrman, J. Li, and J. W. Mayer, Appl. Phys. Lett. 57, 1687 (1990).
15. S. Kim and S. Baik, J. Vac. Sci. Technol. A 13, 95 (1995).