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Volumn 81, Issue 21, 1998, Pages 4768-4771

Charge fluctuations and shear stress of thin films

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EID: 0343445261     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.81.4768     Document Type: Article
Times cited : (5)

References (21)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.