Novel in situ cleavage technique for cross-sectional scanning tunneling microscopy sample preparation

Review of Scientific Instruments

Volumn 67, Issue 5, 1996, Pages 1922-1924

  Kim, Y C ^a   Nowakowski, M J ^a   Seidman, D N ^a  

^a Northwestern University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0343437488     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1146997     Document Type: Article

References (13)

1. O. Albreksten and H. W. M. Salemink, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 779 (1991).
2. H. W. M. Salemink, O. Albrektsen, and P. Koenraad, Phys. Rev. B 45, 6946 (1992).
3. H. W. M. Salemink and O. Albrektsen, J. Vac. Sci. Technol. B 10, 1799 (1992).
4. M. B. Johnson, U. Maier, H.-P. Meier, and H. W. M. Salemink, Appl. Phys. Lett. 63, 1273 (1993).
5. H. W. M. Salemink and O. Albrektsen, Phys. Rev. B 47, 16044 (1993).
6. S. Gwo, K.-J. Chao, C. K. Shih, K. Sadra, and B. G. Streetman, Phys. Rev. Lett. 71, 1883 (1993).
7. S. Gwo, K.-J. Chao, and C. K. Shih, Appl. Phys. Lett. 64, 493 (1994).
8. R. M. Feenstra, D. A. Collins, D. Z.-Y. Ting, M. W. Wang, and T. C. McGill, Phys. Rev. Lett. 72, 2749 (1994).
9. A. Y. Lew, E. T. Yu, D. H. Chow, and R. H. Miles, Appl. Phys. Lett. 65, 201 (1994).
10. J. F. Zheng, J. F. Walker, M. B. Salmeron, and E. R. Weber, Phys. Rev. Lett. 72, 2414 (1994).
11. R. M. Feenstra, Semicond. Sci. Technol. 9, 2157 (1994).
12. A. R. Smith, Kuo-Jen Chao, C. K. Shih, Y. C. Shih, and B. G. Streetman, Appl. Phys. Lett. 66, 478 (1995).
13. R. M. Thomson, Solid State Phys. 39, 2 (1986).