Orientational changes in the ab plane of YBa2Cu3O7-8 films on different substrates

Journal of Applied Crystallography

Volumn 29, Issue 2, 1996, Pages 125-133

  Steinborn, T ^a   Adrian, H ^b   Brecht, E ^a   Fuess, H ^a   Maul, M ^b,c   Miehe, G ^a   Petersen, K ^b,d   Rodewald, M ^a   Rao, M ^g   Schmahl, W W ^a   Traeholt, C ^e   Wiesner, J ^a   Wirth, G ^f   Zandbergen, H ^e   Zegenhagen, J ^g  

^a DARMSTADT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b TH Darmstadt   (Germany)

^c SANOFI   (France)

^d DAIMLER AG   (Germany)

^e DELFT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

^f GSI HELMHOLTZZENTRUM FÜR SCHWERIONENFORSCHUNG GMBH   (Germany)

^g UNIVERSITY OF STUTTGART   (Germany)

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EID: 0343018073     PISSN: 00218898     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0021889895011289     Document Type: Article

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