Parameters influencing peak localization repeatability for X-ray measurements - use of experiment designs technique

Zeitschrift fuer Metallkunde/Materials Research and Advanced Techniques

Volumn 91, Issue 5, 2000, Pages 414-420

  Francois M ^a   Bourniquel, B ^a   Not, C ^b   Guillen R ^a   Duval, C ^b  

^a INSTITUT DE RECHERCHE EN GÉNIE CIVIL ET MÉCANIQUE GEM   (France)

^b Ctr Commun de Rech Louis Bleriot   (France)

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COMPUTER SIMULATION; CORRELATION METHODS; X RAY ANALYSIS;

LOCALIZATION METHOD;

MATERIALS SCIENCE;

EID: 0342918637     PISSN: 00443093     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

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